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InliSEM EPAS 智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)

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自動、快速、功能強大的環(huán)境顆粒物表征分析

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自動、快速、功能強大的環(huán)境顆粒物表征分析

RJ Lee Group 簡介:

       RJ Lee Group以行業(yè)的身份服務于環(huán)境科學、材料表征、法醫(yī)工程、信息管理等領域,并提供創(chuàng)新解決方案,以科學專長、儀器、技術、合作精神激發(fā)研究并解決復雜問題。除了實驗室和咨詢業(yè)務,RJ Lee Group擁有長達40年的持續(xù)研發(fā)、使用掃描電鏡經驗,形成一套準確、可靠、直觀的InliSEM軟件系統(tǒng),其經驗的廣度與深度無人匹敵,InliSEM中凝聚了大量的計算機控制掃描電鏡系統(tǒng)的專業(yè)知識和經驗。

系統(tǒng)概要:

       RJLee實驗室(RJ Lee Group)研發(fā)的智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)(InliSEM EPAS,Enviromental Particle Analysis System)將智能控制技術和專業(yè)數(shù)據(jù)分析計算方法與掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)相結合,可以自動、準確、快速地對環(huán)境樣品中的大批量單顆粒進行表征分析,為用戶提供豐富的專業(yè)軟件工具,具備對數(shù)據(jù)進行可視化分析、挖掘與管理的強大功能。 

       InliSEM EPAS系統(tǒng)的*技術優(yōu)勢在于兼具分析廣度和深度于一體,具備每小時分析數(shù)萬個單顆粒的快速分析時間效率,完整獲取和記錄每個顆粒物的幾何形狀、能譜以及數(shù)字影像信息,據(jù)此,可以較高的統(tǒng)計置信度獲得環(huán)境樣品的整體特征,并深入探究每個單顆粒的細節(jié)特征。

系統(tǒng)應用:

* PM10、PM2.5、PM10-2.5、超細顆粒物的表征研究;

* 揚塵研究;

* 環(huán)境顆粒物中金屬的識別;

* 環(huán)境顆粒物中飛灰的識別;

* 碳顆粒物(煤煙、生物、煤)形態(tài)研究;

* 顆粒物長距離傳輸研究;

* 土壤中金屬的生物可利用率評估;

* 點源和無組織面源排放特征的研究;

* 顆粒物源解析(受體模型)研究;

* UNC被動采樣器樣品的分析;


系統(tǒng)特點:

* 為環(huán)境顆粒物分析量身定做的軟件包;

* *的顆粒物分析功能,快速獲取大量單顆粒物的表征分析數(shù)據(jù)和統(tǒng)計分析結果;

* 智能化的掃描電鏡-能譜儀分析操作:

> 一鍵選擇設置分析參數(shù):亮度/對比度、聚焦、閾值等,無需用戶干預;

> 實時監(jiān)測、調準儀器,實現(xiàn)掃描電鏡和能譜儀的全自動化分析運行;

> 自動存儲每個顆粒物的圖像、光譜、測量數(shù)據(jù);

> 對X射線檢測器進行自動校準和性能檢測;

> 采用圖像分析技術進行顆粒物快速檢測和精確測量;

> 采用統(tǒng)計算法進行瞬時元素識別和定量;

> 顆粒物分析數(shù)據(jù)的實時分類、排序;


* 遠程控制和遠程分析操作;

* 無縫控制和遠程再定位特定的顆粒以便進一步的詳盡分析;

* 利用InliSEM工作臺對顆粒物分析數(shù)據(jù)進行匯總處理/可視化“后分析”;

> 進行“離線”電子顯微分析;

> 對已存儲的顆粒物圖像/光譜數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理和顯示圖表;

> 在樣品總覽圖像上,以交互式操作方式顯示顆粒物的全部分析數(shù)據(jù);


系統(tǒng)組成:

      勘察者——在線數(shù)據(jù)/圖像采集與分析模塊。其功能是實現(xiàn)對掃描電鏡(SEM)和X射線能譜儀(EDS)的全自動控制,使用智能算法快速大面積掃描樣品區(qū)域,并精細測定每個顆粒物的邊界。在對顆粒物幾何尺寸進行精確測量的基礎上,“勘察者”收集和存儲每個顆粒物的高倍率數(shù)字影像,依據(jù)能譜分析數(shù)據(jù)計算單顆粒的化學元素組成,并將原始能譜數(shù)據(jù)和處理結果存儲到數(shù)據(jù)庫中?!翱辈煺摺钡闹悄芩惴軌虮WC的數(shù)據(jù)采集時間和分辨率,以滿足精確測量和快速分析的要求。“勘察者”有兩種操作模式:“專家模式”和“一鍵模式”,前者允許專業(yè)用戶和微調數(shù)據(jù)采集的各參數(shù)選項,后者則為用戶提供一個標準參數(shù)設置方案,大限度地簡化了用戶操作。

      工作臺——數(shù)據(jù)匯總處理及可視化“后分析”模塊。在工作臺上,可以將“勘察者”采集的原始數(shù)據(jù)轉化為用戶需要的分析結果,并通過豐富的表格、圖形、影像展示出來,以更好地解釋和理解數(shù)據(jù)。平臺提供的工具包括:表單化的表格——展示每個單顆粒的所有信息;總覽圖——將所有的圖像、幾何和能譜數(shù)據(jù)等融合拼接結合為單一的多層的蒙太奇整體樣品視圖;系列化的圖形工具——生成各種兩相、三相圖及數(shù)據(jù)表;查詢和分類——便于將顆粒物分類,用于研究和制作報告?!肮ぷ髋_”可安裝于任何可以訪問數(shù)據(jù)庫的電腦上,用戶可通過網絡遠程訪問和處理樣品分析數(shù)據(jù)。“工作臺”的功能之強大,就如同在筆記本電腦上安裝了一個掃描電鏡-能譜儀系統(tǒng)。

      數(shù)據(jù)庫/圖像存儲——存儲來自“勘察者”所有數(shù)據(jù)的大腦。將強大的關聯(lián)數(shù)據(jù)庫與網絡存儲相結合,任何安裝有“工作臺”的計算機都可以在聯(lián)網狀態(tài)下調用數(shù)據(jù)庫中的全部數(shù)據(jù)和圖像,InliSEM數(shù)據(jù)存儲方法靈活而強大-支持多個數(shù)據(jù)庫,并且該結構可容納幾乎無*的數(shù)據(jù),這種方法還有助于高效的數(shù)據(jù)分級備份。


InliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品分析流程:

* 掃描電鏡獲取的灰度影像用于檢出顆粒物;

* 生成每個粒子的單顆粒影像;

* 對每個單顆粒進行45次箱形測量,得到90個直徑數(shù)據(jù);

* 進行能譜(EDS)測量獲得單顆粒的元素組成;

* 完成分析操作后,在“工作臺”上對數(shù)據(jù)進行解析處理;


樣品采集【UNC被動采樣器】

     InliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品采集采用UNC被動采樣器進行,該采樣器采用北卡羅來納大學技術,主要以重力沉降的被動采樣方式收集PM2.5、PM10、PM10-2.5 樣品。其*的設計非常適合用于電鏡分析。

* 技術

* 與FRM采樣器具有非常好的一致性

* 廣泛應用* 


服務領域:

* 環(huán)境空氣質量;

* 環(huán)境健康和安全;

* 顆粒物表征;

* 光學顯微鏡;

* 掃描電鏡(SEM);

* 透射電鏡(TEM/STEM);

* 拉曼光譜;

* FTIR;

* 冶金行業(yè);

* *的材料學和納米技術;

* 建筑材料;

* 生物技術/醫(yī)藥;

* 刑偵/法醫(yī);


實驗室實力:

* 透射電鏡(TEM)/掃描電鏡(SEM);

* 光學顯微鏡;

* 傅里葉紅外線光譜分析儀(FTIR);

* 拉曼光譜儀;

* 氣相色譜(GC)/氣相色譜質譜連用(GCMS);

* 原子吸收光譜;

* 高效液相色譜(HPLC);

* 電感耦合等離子體質譜(ICP-MS);

* 離子色譜(IC);

* 熱重分析儀(TGA);

* OC/EC分析儀;

* X射線衍射儀(XRD);

* X射線熒光光譜儀(XRF);


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