低溫塊體壓電分析儀主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。

低溫塊體壓電分析儀應(yīng)用：

材料性能的研究與開發(fā)
器件質(zhì)量
大信號(hào)和小信號(hào)測(cè)試
溫度依賴性測(cè)試
可靠性和疲勞試驗(yàn)
漏電流測(cè)試

優(yōu)點(diǎn)：
一個(gè)系統(tǒng)就可以進(jìn)行塊體陶瓷材料的壓電和鐵電性能進(jìn)行綜合評(píng)價(jià)，如傳感器和執(zhí)行器
單一軟件進(jìn)行外部硬件控制（如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器）和數(shù)據(jù)采集
遠(yuǎn)程接入和腳本控制
選件可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)庫(kù)連接（ODBC）方便對(duì)材料/設(shè)備進(jìn)行表征
針對(duì)用戶應(yīng)用和要求的硬件
升級(jí)服務(wù)，用戶支持

特點(diǎn)：
支持的硬件：
內(nèi)置或外置的高壓放大器（+/-100V到+/-10 kV）
塊體陶瓷樣品夾具
溫度控制器和溫度腔
位移傳感器（如激光干涉儀、電容或電感）
外置鎖相放大器或阻抗橋

軟件：
Windows 7操作系統(tǒng)
通過GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過ODBC接口的數(shù)據(jù)庫(kù)連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過ASCII形式輸出
測(cè)試數(shù)據(jù)交換通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer。

測(cè)試功能：
大信號(hào)電極化和位移（單一極化和雙化）
小信號(hào)電容、損耗、壓電系數(shù)與單一和雙極直流偏壓
電性能和機(jī)電性能隨溫度的變化研究
熱釋電測(cè)試
漏電流測(cè)試
疲勞測(cè)試
阻抗測(cè)試
用戶定義激勵(lì)波形

低溫塊體壓電分析儀本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。