微型取樣儀是微小物體分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出，還有時會因為待測物尺寸小于儀器檢測極限帶來許多難題，而微區(qū)取樣儀可以幫助用戶輕松解決。

      微型取樣儀是微小物體分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出，還有時會因為待測物尺寸小于儀器檢測極限帶來許多難題，而微區(qū)取樣儀可以幫助用戶輕松解決。

微區(qū)取樣儀

日本Micro Support Axis Pro 系列

簡介：

       微區(qū)取樣儀是微區(qū)分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經(jīng)常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出，還有時會因為待測物尺寸小于儀器檢測極限帶來許多難題，而微區(qū)取樣儀可以幫助用戶輕松解決。高精度的微區(qū)取樣儀通過鼠標控制，全自動、多角度、高效率的將微小待測物取出或暴露出來，便于用戶進行下一步的儀器分析，該設備在微小樣品分析、異物分析、多層復合材料分析、及FIB制樣輔助領域均有廣泛應用，尤其在顯示材料行業(yè)的質(zhì)量控制和產(chǎn)品研發(fā)中起到重要作用。

功能全面：
       日本MicroSupport微區(qū)取樣儀可配套多種精密微工具對微米級的待測物進行相應處理，例如微探針可用于挑取表面上或微孔中的待測物、超聲波銑削工具可去除待測物表面的覆蓋層、微鑷子可夾取膠黏劑中的待測物、收集器可富集小于1μm的待測物、微切刀和真空吸取工具等可切取復合材料其中一層的待測物，甚至是給待測樣品做標記、將FIB制備的樣品快速旋轉(zhuǎn)放置等處理，都可以在相應的工具輔助下輕松完成，為后續(xù)檢測分析創(chuàng)造了條件。

配置靈活：
       模塊化設計，可根據(jù)實際應用靈活裝配。

多功能、多選配：

       MicroSupport微區(qū)取樣儀擁有豐富的取樣和制樣工具可供選擇，各種材質(zhì)、各種外形、各種尺寸、各種功能，，可**地解決微區(qū)分析中找樣難、取樣難、測樣難等問題。