產(chǎn)品簡(jiǎn)介

太赫茲是近年來科研領(lǐng)域一個(gè)非常熱門的研究方向，太赫茲時(shí)域光譜測(cè)試技術(shù)則是一門新興的正在蓬勃發(fā)展的技術(shù)。目前國內(nèi)外物理學(xué)、光學(xué)相關(guān)領(lǐng)域的科研實(shí)驗(yàn)室大多已經(jīng)裝備了太赫茲時(shí)域光譜測(cè)試設(shè)備，進(jìn)行超材料、半導(dǎo)體材料等的研究。然而太赫茲光譜特色的生物大分子識(shí)別特性卻很少得到真正的實(shí)際應(yīng)用。

Eachwave推出的太赫茲衰減全反射測(cè)試模塊，主要針對(duì)含水量多的細(xì)胞、組織等樣品，可以通過衰減全反射的方式測(cè)試出樣品對(duì)太赫茲波譜的吸收譜。可以真正的將太赫茲波譜的生物大分子指紋識(shí)別特性應(yīng)用于生物樣品的分析測(cè)試中去。讓更多人的生物科研用戶多了一個(gè)新型的強(qiáng)而有力的樣品分析研究手段。

太赫茲衰減全反射測(cè)試，專門用于測(cè)試對(duì)入射的太赫茲光譜具有強(qiáng)烈吸收的樣品。太赫茲波段的衰減全反射模塊核心部件是一塊高阻硅（HRSi）棱鏡，HRSi在太赫茲波段（0.1-4THz）具有平坦且很高的折射率，在0.1-4THz，HRSi折射率約為3.416。

如下圖所示，太赫茲光束經(jīng)過高折射率的高阻硅(HRSi)棱鏡，入射到小折射率的樣品上，在樣品與高阻硅(HRSi)界面全反射，此過程中，太赫茲(THz)光束會(huì)在樣品中有一定的穿透深度，即全反射過程中產(chǎn)生的倏逝波會(huì)在樣品中傳播一段距離并終攜帶樣品的信息反射出來。通過這種方法可以測(cè)試對(duì)太赫茲波吸收強(qiáng)烈、不能用常規(guī)透射或反射方法測(cè)試的樣品（如生物樣品、細(xì)胞蛋白質(zhì)等）。

技術(shù)參數(shù)

高阻硅折射率	3.416
樣品池尺寸	25mm*40mm
樣品折射率要求	< 2.5
THz光束入射角度	51.6°

高阻硅折射率色散曲線

太赫茲衰減全反射測(cè)試模塊用于客戶的TDS系統(tǒng)中

ATR模塊應(yīng)用于TDS系統(tǒng)中（THz光束平行，直徑約為2cm），