基于LiTa03晶體的熱釋電探測器設計用于配準毫米和亞毫米波長范圍內的調制電磁輻射。在輻射的方波調制下，來自探測器的鋸齒波信號電壓與輻射強度成正比。在探測器的輸入端安裝了一個黑色濾光片，以防止可見光和紅外光區(qū)域的寄生照明。檢測器配有標準的BNC連接器。

熱輻射計是用于測量紅外輻射的檢測器。 它們對熱輻射非常敏感，主要用于10至5000µm（30THz至60GHz）的紅外光譜中。

探測器元件是一種非常敏感的熱敏電阻，為了降低熱本底，它被冷卻到LHe溫度。 

撞擊在檢測器上的任何熱輻射都會引起溫度變化，這會導致電阻發(fā)生變化，該變化的電阻被放大并作為電壓差進行測量。

由于輻射熱計測量溫度變化，因此必須對入射輻射進行調制。 

這使得輻射熱測量計能夠激發(fā)和放松，因此可以測量對應于入射輻射能量的電阻變化。 

應用：

參數規(guī)格：

通用4.2K系統：

我們，用途泛的輻射熱測量系統同時也涵蓋了廣泛的應用范圍。 

它由一個與2.5mm金剛石吸收器相連的4.2K輻射熱檢測器元件組成。 

它在15至2000µm（20THz至150GHz）的范圍內調制頻率在200至400Hz的范圍內。

標準1.6K系統：

與我們的通用4.2K系統類似，其光譜響應（15至2000µm）具有降低探測器溫度的附加優(yōu)勢。 

這些好處包括較低的NEP，較高的靈敏度以及快速響應時間的優(yōu)點。 該系統可以在大于1 KHz的調制頻率下工作。

HI-RES4.2K系統：

該系統提供了較低的熱導率檢測器和更高的光譜分辨率。 該配置提供了響應速度較慢的系統，其調制頻率保持在200Hz以下。

 該系統更靈敏，NEP值比通用4.2K系統低一個數量級。

遠紅外1.6K系統：

專門配置為檢測存在于紅外光譜較長波長中的能量較低的信號，并且在300µm至5mm的范圍內表現良好。 

與我們的其他輻射熱測量系統相比，它的導熱系數非常低。 這有助于提供更長的時間以捕獲低信號強度，并且在低于300Hz的調制頻率下運行