| 參考價 | ￥ 1000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
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美國SP近紅外激光光譜儀SM241是一種緊湊的CCD光譜儀，專為近紅外激光應用。光譜產(chǎn)品的紅外上轉(zhuǎn)換磷光涂層打破了標準的硅基探測器陣列靈敏度壁壘1100nm，允許光譜測量高達1700nm。該技術使SM241成為鍺或InGaAs系統(tǒng)的低成本替代品。
近紅外激光光譜儀SM241
美國SP近紅外激光光譜儀SM241是一種緊湊的CCD光譜儀，專為近紅外激光應用。光譜產(chǎn)品的紅外上轉(zhuǎn)換磷光涂層打破了標準的硅基探測器陣列靈敏度壁壘1100nm，允許光譜測量高達1700nm。該技術使SM241成為鍺或InGaAs系統(tǒng)的低成本替代品。SM241光學工作臺包括超大尺寸鍍金鏡面和光柵，以適應近紅外光收集和分析。該光譜儀的光譜覆蓋范圍為900-1700納米。在900-1700納米范圍內(nèi)縮小覆蓋窗口尺寸將提高光譜分辨率和光敏度。但是，雖然SM241可以測量到1700納米，由于它的低靈敏度，它被限制在應用測量非常窄的帶寬和強光，如在這個近紅外范圍內(nèi)的激光。
標準接口包括一個USB 2.0接口和一個具有16位擴展動態(tài)范圍的PCI卡接口。軟件支持包括用于專用應用程序開發(fā)的SDK和dll，以及我們的SM32Pro基于windows的光譜采集和分析軟件。標準和傳統(tǒng)接口設計都提供了對采集編程和外部觸發(fā)的支持。
主要特點 * 鍺和銦鎵砷之外的另外一種高性價比方案 * 緊湊的設計，可手持，易固定 * 待測光直接通過狹縫或者光纖輸入 * 多應用設計 * 光譜范圍從900-1700nm * USB2.0接口，16位動態(tài)范圍 * 支持8通道設置 | 典型應用 *半導體工業(yè)過程診斷 * 糧食和農(nóng)業(yè)/ 污染測量 |
型號 | SM241 |
探測器 | 像素：2048 像元：14µm x 200µm 靈敏度：30 V/mJ/cm2 |
光譜范圍 | 900 – 1650 nm |
分辨率 | 1 - 10nm（取決于光柵和狹縫） |
雜散光 | < 0.001 |
F/# | 3.5 |
暗噪聲rms | < 60 RMS counts in 16bit @ 35msec積分時間 |
信噪比 | 250:1 |
積分時間（Min） | 1msec |
數(shù)據(jù)接口 | USB 1.1 / 2.0 16-bit (支持8通道配置) |
光纖接口 | SMA905或FC |
觸發(fā)模式 | 自由運行模式 外觸發(fā)模式 |
軟件 | SM32Pro (免費)包含 DLL數(shù)據(jù)庫和SKD開發(fā)包 |
尺寸 | 5.98 H X 3.94 W X 2.50 D |
重量 | 2.7 lbs. |
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