美國(guó)Premier X-ray樣品膜（X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。元素檢測(cè)薄膜TF-160

一、美國(guó)Premier XRF樣品膜：

美國(guó)Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)。

美國(guó)Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。元素檢測(cè)薄膜TF-160

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。元素檢測(cè)薄膜TF-160

二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

目錄編號(hào)：

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長(zhǎng)度       數(shù)量       描述

TF-160    Mylar邁拉膜 6.0μ(0.24mil)      76mm x 91.4m      1卷/盒    Mylar®Rolls連續(xù)卷軸