HCWP 高溫介電溫譜測試系統(tǒng)
參考價 | ¥ 100000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 北京華測試驗儀器有限公司
- 品牌
- 型號 HCWP
- 所在地 北京市
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/7/31 9:41:23
- 訪問次數(shù) 3044
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高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標準。重復性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準確度,同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)
一、高溫介電溫譜測試系統(tǒng)
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標準。重復性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準確度,同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全;資料保存機制,當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數(shù)據(jù),設備重新啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。
目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設備,將對電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集,華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的參數(shù)分析技術,實現(xiàn)了高達120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求.
最高溫度 1650°c
最大頻率 120MHZ
溫度精度 ±0.25°c
最快測量 6.4ms
高溫介電測試
高溫真空測量
高溫氣氛測量
高溫燒結/退火
常溫介電測量
二、高溫介電溫譜測試系統(tǒng)詳細介紹:
1、消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運用三電極法設計原理測量。并參考美國 A.S.T.M 標準。重復性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的準確度,同時抗干擾能力更強。本設備也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設置,符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全;資料保存機制,當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數(shù)據(jù),設備重新啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。
目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設備,將對電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集,華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新的參數(shù)分析技術,實現(xiàn)了高達120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導體,功能材料和納米器件的測試需求.
1、消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能 更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
華測系列阻抗分析儀是華測儀器電子事業(yè)部采用當前先進的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新的高度。解決同類儀器,在測量10Hz-50MHz的頻率瓶頸;解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨測試的缺陷;采用單測和分析兩種界面,讓測試更簡單。得益于先進的自動平衡電橋技術,在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達5ms的測試速度及高達50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴展了十倍。
2、專用高頻測試線纜,更適合高頻
測量
測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口,附帶BNC陽頭連接板,用于連接高溫爐的測試夾具,同時測試線采用高頻測試專用測試線,設計兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。
3、儀器優(yōu)勢:
1、它可以勻速、階梯(升降溫)、循環(huán)沖擊,真空、氣氛等多種的加熱方式。
2、采用全新的移相觸發(fā)技術,*可實現(xiàn)控制精度波動±0.25°c 以內(nèi),溫控精度更高。
3、加熱速度更快、更快,同時它可以提供了材料的更多的測試環(huán)境。
4、設備優(yōu)勢
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設氣體冷卻裝置,可實現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度控制
近紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以準確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體 靜態(tài)或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
5、更強的擴展能力,實現(xiàn)一機多用
█ 多功能真空加熱 爐,可實現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學測試
█采用鉑金材料作為測量導線、以減少信號衰減、提高測試精度
█ 設備配置水冷裝置,降溫速度更快、效率更高
█ 可實現(xiàn)介電溫譜、介電頻譜等測量功能
█ 進口溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度更精準
█ 近紅外加熱,樣品受熱更均勻,不存在感應電流,達到精準測量
█ 10寸進口觸摸屏設計,一體化設計機械結構,更加穩(wěn)定、可靠
█ 采用進口高頻測試線,抗干擾能力更強,采集精度更高
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣,配和鉑金電極夾具
█ huace pro 強大的控制分析軟件與功能測試平臺系統(tǒng)相互兼容
6、不一樣的加溫方式及更多的應用場景
7、設備測量參數(shù)
溫度范圍: RT-800 (最高1650)°C
樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
控溫精度:±0.25°C
電極材料:鉑金
升溫斜率:10°C/min(可設定)
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
測試頻率 : 10Hz~120MHz
絕緣材料:99氧化鋁陶瓷
加熱方式:近紅外加熱
測試功能:介電溫譜、頻譜
冷卻方式:水冷
數(shù)據(jù)傳輸:4個USB接口
輸入電壓:110~220V
設備尺寸:600x500x350mm
ε介電常數(shù)、(ε'、ε''介電常數(shù)實部與虛部)、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R''電阻實部與虛部)、Z、(Z'、Z''阻抗實部與虛部)、Y導納、Y’、Y''(導納實部與虛部)、X電抗、Q品質因數(shù)、cole-cole圖譜、機電耦合系數(shù)Kp、等一系列測量參數(shù)及介電溫譜與頻譜等測試功能。
8、更強大的操作軟件
測試系統(tǒng)的軟件平臺 Huacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項測試需求,具備強大的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復。支持新的國際標準,兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);
█ 使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;
█ 故障狀態(tài):軟件具有設備的故障報警功能。
█ 試驗報告:自定義報表格式,一鍵打印試驗報告,可導出EXCEL、PDF格式報表
強大的硬件配置
軟件兼容:Huace(6500、6800)、Keysight( E4990、E4991、E4980A)、
waynekerr(6500B、6530、4235)同惠(2983、 2838、2851)等阻抗分析儀表。
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機印接口,最大可擴充8個USB接口
█ 最大支持16G內(nèi)存,60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運行更加流暢
阻抗分析儀系列:
模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;
測量方式:軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;
溫度設置:可設置升溫速度、降溫速度、最大溫度、測量等待時間等;
測量參數(shù):ε介電常數(shù)、(ε'、ε''介電常數(shù)實部與虛部)、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、阻、(R'、R''電阻實部與虛部)、Z、(Z'、Z''阻抗實部與虛部)、Y導納、Y’、Y''(導納實部與虛部)、X電抗、Q品質因數(shù)、cole-cole圖譜、機電耦合系數(shù)Kp、等;
測量頻率:軟件可設置測試的頻率;
數(shù)據(jù)處理:測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;
圖像處理:測量曲線可保存。
普通參數(shù):
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
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