450kV的*微焦點射線源
XTH450LC，應用于渦輪葉片測定以及眾多中小型鑄件的無損檢測領(lǐng)域，并慢慢成為一種新的重要檢測標準。這個型號的機器核心450kV微焦點射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測器更是讓曲面效應以及射線散射現(xiàn)象等得到根本解決，在渦輪葉片以及其他眾多金屬零件的檢測中得到近乎的效果。

主要特點

• 獨立的450kV微焦點射線源
• 可掃描樣品的尺寸達到直徑500mm，高度600mm
• 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門讓樣品的放置以及維護檢測變得更加方便
• 五軸樣品操作臺載重可達100kg
• 高效率的線陣探測器與面陣平板探測器可以同時搭載以滿足不同需求。（選配）
• 專門為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應用程序。

引進功能

• 將靈活性整合到一個系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測，CT重構(gòu)精密解析
• 快速獲取高品質(zhì)圖像
• 人機交互式操作桿導航界面使用快速直觀
• 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理
• 不需要特別外加防護的完備安全系統(tǒng)
• 通用于業(yè)界標準的后處理應用格式

用途

• 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細分析
• 渦輪葉片的合格與否自動判定
• 幾十微米級別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測

XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測，
帶有高功率450kV微焦點X射線源

Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標準。這臺功能強大的設備的核心部件是一個450kV微焦點源，可提供超高分辨率和超高精度。

彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測器是一臺非常靈活的設備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等

優(yōu)點 可靈活地整合在單個系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析
快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像
高分辨率數(shù)字成像和處理
嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預防措施或安全警示標志

特性
*的450kV微焦點源
測量體積可達600mm直徑和600mm高度
高效線性探測器，>80%量子檢測有效率
五軸*可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌
特別適用于渦輪葉片的自動通過/不通過檢測

應用
渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細分析
葉片的自動通過/不通過檢測
需要微米精度的高密度部件檢測（例如金屬件、鑄件）