華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀
一、華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀工作原理：
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本測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來(lái)設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。
二、華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀主要特點(diǎn):
HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀，主要應(yīng)用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣性能缺陷檢測(cè)。采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式，HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀是根據(jù)1EC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分:試驗(yàn)方法及其第1次修正和GB/T13542-2009 《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于鋰離子電池隔膜、電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用進(jìn)口品牌(如歐姆龍，西門子，ABB等)，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。如過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門開啟保護(hù)。
三、華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀儀器參數(shù)：
四、華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀儀器結(jié)構(gòu)：
五、華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀功能特點(diǎn)：
1本產(chǎn)品采用新智能控制技術(shù)，通過(guò)選擇程序（IEC或ASTM）可自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)，并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過(guò)程和結(jié)果。
2控制系統(tǒng)采用西門子的PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。
3安全性能良好，抗ganraoneng力強(qiáng)，測(cè)試精度高。
4自動(dòng)化程度高，按照設(shè)定的試驗(yàn)要求，自動(dòng)升壓到設(shè)定的電壓后，自動(dòng)完成試驗(yàn)并自動(dòng)歸零。
5電弱點(diǎn)測(cè)試儀電壓和電流具有自動(dòng)校驗(yàn)功能，方便計(jì)量和校準(zhǔn)。
可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測(cè)試儀器
可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測(cè)試儀器
