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上市時間：2021-09-01
創(chuàng)新點：作為國產鎢燈絲掃描電鏡，核心參數(shù)及穩(wěn)定性已追平國際產品，且為適配廣大用戶需求，制作市面最大腔體樣品倉，最大直徑可達370mm
國儀量子鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡。觀察亞微米級的微觀結構，放大倍數(shù)可達300000倍。此型產品具有快速更換燈絲的優(yōu)點。其分辨率可達3 nm，在自動五軸樣品臺的配合下，非常適用于生產品質控制及樣品篩選，適合傳統(tǒng)光學顯微鏡無法滿足需求的用戶。
SEM3100
SEM3100具有出色的成像質量和豐富的擴展性，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發(fā)揮到極大。分辨率可達3 nm，超大樣品倉，可容納最大直徑為370mm的樣品，以及諸多細節(jié)功能設計和特色功能，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有超高的分辨率和出色的成像質量。放大倍率連續(xù)可調，在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的超大樣品倉和低電壓模式，極大地擴展了SEM3100的應用范圍。
掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、能譜儀（EDS）外，也預留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）、陰極熒光（CL）等探測器都可以在SEM3100上進行集成。
二次電子成像和背散射成像對比。背散射像下，樣品的荷電效應明顯減弱，并且具有很好的成分襯度，適合進行成分觀察。
水泥建筑材料SE和EDS分析結果，加速電壓15 kV
*微量Au元素為噴金后的鍍層
SEM3100標配的倉內攝像頭可拍攝高清樣品臺照片，助您快速定位樣品。
可通過旋鈕控制板或鼠標滾輪/手勢快速調節(jié)聚焦和像散等參數(shù)，極大地提高成像效率。
直觀反映像散程度，通過鼠標點擊即可快速調節(jié)像散至最佳。
結果圖
拖動一條線，圖像立刻“擺正角度”。
動態(tài)圖
結果圖
電子光學系統(tǒng)
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