快速溫度循環(huán)試驗箱（可非標定制）是一臺可以快速做高溫、低溫、高低溫循環(huán)交變試驗的箱子，它快的速度可以每分種升降溫20℃，當然也可以根據顧客的要求選擇非標設計定制出符合國標參數(shù)的箱子。非標定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15℃／min至20℃／min范圍內可選。

快速溫度循環(huán)試驗箱（可非標定制）是一臺可以快速做高溫、低溫、高低溫循環(huán)交變試驗的箱子，它快的速度可以每分種升降溫20℃，當然也可以根據顧客的要求選擇非標設計定制出符合國標參數(shù)的箱子。非標定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃／min、3℃／min、4℃／min、5℃／min、6℃／min、7℃／min、8℃／min、9℃／min、10℃／min、15℃／min至20℃／min范圍內可選。尺寸大小可以在廠家提供的6個標準范圍內選擇，也可以把自己要求的寬、高、深（內尺寸）提供給廠家定制。

快速溫度循環(huán)試驗箱（可非標定制）適用于通訊、光電、航空航天等產品試驗用，還適合于信息電子儀器儀表、電工、安防產品、材料、電子產品、各種電子電器元氣件在溫度快速轉變的情況下檢驗其的各項性能指標是否有變化或者影響。常做的溫變率有:15℃/min、10℃/min、5℃/min、20℃/min、25℃/min （可選擇線性或非線性變化）。

符合標準：

GJB/150.3A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。

GJB/150.4A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。

GB/T 5170.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。

GB/T 2423.3-2006  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。

GB/T 2423.4-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

GJB/150.9A-2009  裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。

GB/T 2423.1-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008  電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。

GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術條件。