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低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統(tǒng)由=測試裝置（夾具）、介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
產品簡介：
低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統(tǒng)由=測試裝置（夾具）、介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
主要參數：
工作頻率范圍：1KHz～200kHz精度：±0.01%
電容測量范圍：0.0001pF～99.99mF五位數顯
電容測量基本誤差：±0.05%
損耗因素D值范圍：0.0001～9.9999五位數顯產品簡介：
低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統(tǒng)由=測試裝置（夾具）、介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
主要參數：
工作頻率范圍：1KHz～200kHz精度：±0.01%
電容測量范圍：0.0001pF～99.99mF五位數顯
電容測量基本誤差：±0.05%
損耗因素D值范圍：0.0001～9.9999五位數顯
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