溫濕度三綜合試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧母叩蜏?，濕度，震?span style="line-height: inherit; font-weight: inherit; font-style: inherit; vertical-align: baseline; background: transparent; -webkit-tap-highlight-color: transparent; appearance: none;">安全性能測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過該試驗(yàn)，提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。快速溫度變化試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備，考核和確定電工、電子、半導(dǎo)體、通訊、光電、電器、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫濕熱試驗(yàn)的溫度環(huán)境快速變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學(xué)校，工廠，研發(fā)，等單位.
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)
GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；
GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）；
GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
溫濕度三綜合試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)：
設(shè)備容積：1000L
內(nèi)箱尺寸：1000*1000*1000mm（寬*高*深）
外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為準(zhǔn)
溫度范圍：-40~+150℃
升溫速率：3.0℃/分鐘（非線性空載） RT（常溫）—+150℃（約）30分鐘
降溫速率：1.0℃/分鐘（非線性空載） RT（常溫）— -40℃（約）60分鐘
溫度偏差：±2.0℃
電源：AC三相五線 380V 50Hz（電壓波動≤±10%）
節(jié)能設(shè)計(jì)：
制冷系統(tǒng)可根據(jù)負(fù)載大小調(diào)節(jié)功率，采用PID+PWM原理的VRF技術(shù)（電子膨脹閥根據(jù)熱能工況冷媒流量伺服控制），且具有壓縮機(jī)能量調(diào)節(jié)技術(shù)，能達(dá)到不錯(cuò)的節(jié)能效果。
禁止放置產(chǎn)品：
1、易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存。
2、腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存。
3、生物試樣的試驗(yàn)或儲存。
4、強(qiáng)電磁發(fā)射源試驗(yàn)或儲存。
備注：振動臺可廠家配備或客戶自備
