低噪聲，高動態(tài)范圍

系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標，它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動態(tài)范圍可達125 dB@10Hz IFBW，接收機噪底-125 dBm/Hz，可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景，比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試

SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進行全4端口S參數(shù)測試，并且具備多種顯示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗證天線，濾波器等的特性時，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進行通過失敗測試，有利于提高生產(chǎn)效率。

SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時，可將輸入輸出端口進行阻抗變換，從而進行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。 此功能還可應用于差分線纜等其他差分類測試。

時域分析功能

SNA5000X系列支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時延等參數(shù)進行分析

眼圖分析

SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征，從中觀察出碼間串擾和噪聲的影響，進而估計系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心，為需要對高速信號進行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。

消除夾具效應

在微波射頻領域，如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導致測試結果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。