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半導體參數(shù)分析儀SPM600系列是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面，提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試。40μm 探測光斑，實現(xiàn)百微米級探測器的絕對光譜響應(yīng)度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設(shè)計可擴展多路光源，例如超連續(xù)白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要
半導體參數(shù)分析儀SPM600系列是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面，提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試。40μm 探測光斑，實現(xiàn)百微米級探測器的絕對光譜響應(yīng)度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設(shè)計可擴展多路光源，例如超連續(xù)白光激光器，皮秒脈沖激光器，半導體激光器，鹵素燈，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是半導體微納器件研究的優(yōu)選。
半導體參數(shù)分析儀SPM600系列功能：
■ 光譜響應(yīng)度光源選項
卓立漢光根據(jù)樣品光譜相應(yīng)范圍選擇適合的光源，如EQ 光源，氙燈光源，氙燈溴鎢燈復合光源。
EQ光源
特點：
■ 光譜范圍寬：190-1700nm寬光譜范圍；
特點：
■ 光譜范圍寬：250-1700nm寬光譜范圍；
特點：
■ 光譜范圍：250-2500nm
測試案例
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