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布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE

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布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換。

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新的D8 ADVANCE 衍射儀——真正的“智能化”衍射儀

D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供全球保證!
先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。


·元器件自動識別及配置

·元器件互換無需調整,彈指間實現(xiàn)光路互換

·在一臺設備上集成多功能,而且輕松實現(xiàn)功能互換

·系統(tǒng)智能糾錯

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布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE技術指標:                                                
●Theta/theta 立式測角儀                              
●2Theta角度范圍:-110~168°
●角度精度:0.0001度                    
●Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管                  
●探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  
●儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            
●重量:770kg                                              
D8 ADVANCE 3.jpg


布魯克X射線衍射儀 D8 ADVANCE主要功能

TWIN / TWIN 光路

布魯克的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

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動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)

布魯克的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質量樹立了全新的重要基準。馬達驅動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供數(shù)據(jù)質量——尤其是在低2Θ角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。


LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有高計數(shù)率和好的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。

LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實出色,是市面上性能好的的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100%過濾,而且無需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無需用到會消除強度的二級單色器。

布魯克提供的LYNXEYE XE-T探測器保證:交貨時保證無壞道!

D8 ADVANCE 5.jpg

應用:
●物相定性分析
●結晶度及非晶相含量分析
●結構精修及解析
●物相定量分析
●點陣參數(shù)精確測量
●無標樣定量分析
●微觀應變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應力
●低角度介孔材料測量
●織構及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測量
●小角散射    





冠乾科技(上海)有限公司

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