(1)應(yīng)用領(lǐng)域
●計量領(lǐng)域(平面平晶檢測)
●半導(dǎo)體工業(yè)(晶片檢測)
●大平板顯示(平面檢測)
●手機(jī)工業(yè)(背板檢測)
●光學(xué)加工(窗口玻璃檢測)
●高精度精密機(jī)械(平面元件檢測)
●LED工業(yè)(藍(lán)寶石襯底檢測)
●數(shù)據(jù)存儲和科研院校教學(xué)儀器等多種領(lǐng)域。
●平面平晶、窗口玻璃、光學(xué)平面、金屬平面、陶瓷平面等
●光滑表面面形的高精度快速測量,90°直角棱鏡和角錐測量。
(2)產(chǎn)品綜述
無應(yīng)力平面檢測干涉儀是高性能模塊化組合檢測干涉儀中的一種,它采用組合式激光干涉儀作為核心部件,主要用于高效檢測高精度平面。
該產(chǎn)品包括光源、主機(jī)、成像以及鏡頭和相移等四大模塊,主要技術(shù)指標(biāo)已達(dá)到國際水平, 采用更加簡便操作的俯式測量,擁有*的測量精度和測量重復(fù)性,突破了一等平面平晶限制,且其采樣點(diǎn)可達(dá)上百萬像素,能客觀反映被測平面全貌。不僅測量精度高,而且具有*的測量效率。
此款干涉儀可廣泛應(yīng)用高精度光學(xué)元件制造、計量檢測、生物醫(yī)學(xué)、航空航天、國防、微電子、能源等眾多領(lǐng)域,具有廣闊的市場前景。
(3)平面平晶檢測干涉儀參數(shù)性能
測量原理: | 斐索干涉原理 |
光源波長: | 632.8nm |
樣品準(zhǔn)直: | 使用兩個光點(diǎn) |
電源: | 220V 50HZ /11 0V 60HZ |
操作系統(tǒng): | Windows7/10, 32/64bit |
CCD分辨率: | 1280*960像素 |
軟件: | H&L-p數(shù)字化相移分析軟件 |
精密度: | 入/600 PV |
重復(fù)性: | 入/500 PV |
重復(fù)性: | 入/1000 RMS |
透射平面鏡精度: | A/20 PV |
◆材質(zhì)均勻性
◆超精密平面/球面面形測量
◆光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)和校準(zhǔn)
◆光學(xué)組件透射波前測量
◆光學(xué)均勻性測量
◆平行度測量
◆角錐角度測量
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