一鍵式拼接測量儀，針對長軸類產(chǎn)品測量，拼接范圍可達(dá)到200×80mm。無需人工擺放，產(chǎn)品在測量范圍內(nèi)即可一鍵測量。

視方科技一鍵式軟件基于WIN10系統(tǒng)開發(fā)，相較WIN7以前的系統(tǒng)，軟件穩(wěn)定，響應(yīng)迅速。

1. 視方科技一鍵式不但底光可以精準(zhǔn)匹配測量，上表面光也可以很好的匹配測量。除了日本基恩仕外，國產(chǎn)之一鍵式大部分還停留在底光測量或者上光匹配不穩(wěn)定或匹配不到的階段。

2. 視方科技一鍵式鏡頭精度補嘗采用的是面補嘗，即通過棋盤格上的黑白格來補嘗精度，測量精度比除基恩仕外的都要高。

3. 視方科技一鍵式采用亞像素算法，匹配測量精度高且數(shù)據(jù)穩(wěn)定。

4. 視方科技一鍵式燈光節(jié)點功能，面對產(chǎn)品在同一種燈光亮度無法滿足測量的情況下，進(jìn)行燈光切換或亮度調(diào)整，從而達(dá)到在不同燈光效果下進(jìn)行測量，兼容復(fù)雜測量環(huán)境。

1. 視方科技一鍵式開發(fā)的輪廓抓取功能，配合取交點等命令，面對形狀不規(guī)則的產(chǎn)品或者加工斷面不平整的情況，亦可精準(zhǔn)測量。

2. 視方科技一鍵式推出頂點線和頂點圓功能，專門針對彈簧和齒輪等產(chǎn)品的特殊位置進(jìn)行測量，使面對類似這種形變量很大且取點位置特殊的產(chǎn)品，測量操作簡單化，測量穩(wěn)定性和精度大大提高。

3. 視方科技一鍵式擁有電子卡尺功能，在測量產(chǎn)品的短邊或者加工不穩(wěn)定的地方時，大部分軟件都會因為測量的邊長度太短或者加工的不同產(chǎn)品形變量很大，造成重復(fù)測量數(shù)據(jù)偏差很大。用電子卡尺通過找正產(chǎn)品基準(zhǔn)，達(dá)到穩(wěn)定測量。

4. 視方科技一鍵式加入了輪廓對比功能，面對一些客戶需要導(dǎo)入CAD標(biāo)準(zhǔn)圖檔與實際產(chǎn)品測量的輪廓進(jìn)行對比并且做出數(shù)據(jù)分析，輪廓對比功能可以很好的滿足此需求。

5. 視方科技一鍵式報表客制化導(dǎo)出功能，可將測量的數(shù)據(jù)按要求導(dǎo)入到客戶公司的母表中，將數(shù)據(jù)填入相應(yīng)的位置。且可兼容PDF，XLC，TXT，SVC，DOC等格式。實現(xiàn)一鍵測量出數(shù)據(jù)的真正意義上的一鍵式測量。

6. 視方科技一鍵式的CAD導(dǎo)入導(dǎo)出功能，此功能不但能像市面上那些軟件一樣導(dǎo)入或?qū)С鯠XF文檔，且可兼容導(dǎo)出標(biāo)注。

7. 視方科技一鍵式針對產(chǎn)品邊緣抓取提供多種模式：自動，黑白，灰度，線性，透明?？蓾M足環(huán)境下產(chǎn)品邊緣精準(zhǔn)抓取，并且可根據(jù)實際情況調(diào)節(jié)抓取閥值，達(dá)到抓取效果。

8. 視方科技一鍵式有專門的“基準(zhǔn)圖元”功能，解決一鍵式在匹配的時候因為匹配圖形微偏造成測量傾斜的問題。

9. 視方科技一鍵式*的程序“面域”功能，在同一個程序下，可添加六個面域：正上，正下，左側(cè)，右側(cè)，正前，正后，使同一個產(chǎn)品在不切換程序的情況下測出每個面域的數(shù)據(jù)，且導(dǎo)入到相應(yīng)面域的表格里。

10. 視方科技一鍵式軟件所有命令都可以設(shè)定快捷鍵，提高編程和測量效率。

11. 視方科技一鍵式預(yù)留有外接R232，USB，IP網(wǎng)絡(luò)端口，方便對客戶的ERP系統(tǒng)或SQL數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)進(jìn)行分析對接。

12. 視方科技一鍵式軟件有專門識別字符的功能，針對LOGO或印刷字體進(jìn)行分辨，主要檢測錯印、印斜或重印。

13. 視方科技一鍵式提供SPC報表輸出功能，導(dǎo)出結(jié)果直接進(jìn)行CPK數(shù)據(jù)分析。

14. 視方科技一鍵式測量采用產(chǎn)品匹配的方法，軟件掃描繪圖區(qū)域，匹配特征區(qū)，然后一次掃描得出數(shù)據(jù)。目前國內(nèi)很多一鍵式還停留在二次元的圖地逐一抓取的階段，較之測量效率要低于我們很多。

15. 視方科技一鍵式提供快速查找程序功能，直接輸出產(chǎn)品料號，軟件會根據(jù)輸入的字母或文字，逐漸得出操作人員想要查找的對應(yīng)程序，節(jié)省調(diào)入程序的時間。

視方一鍵式首“創(chuàng)小、微臺階測量”功能，使產(chǎn)品小臺階或小槽寬也能夠精準(zhǔn)測量。