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HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)

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  將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來,實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測試。

產(chǎn)品特點(diǎn):
● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強(qiáng)拉曼(TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動(dòng)準(zhǔn)直
● 可同時(shí)提供上方、側(cè)向耦合光路,均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭,對(duì)環(huán)境噪聲不敏感


AFM-拉曼耦聯(lián)配置 
   HORIBA Scientific
拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡(SPM)進(jìn)行耦合,構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái)。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
    所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對(duì)掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對(duì)熱點(diǎn)進(jìn)行成像,因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到
SPM
探針針尖上。
    高通量的光信號(hào)收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜
。

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)

 

將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

    我們所提供的解決方案使用直接光路耦合,對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡(AFM)、近場光學(xué)技術(shù)(SNOM,NSOM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和共焦光學(xué)光譜儀(拉曼和熒光成像)耦合到一臺(tái)多功能的儀器中,以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)或共點(diǎn)測量。
結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

 

● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
● 同步測量的平臺(tái),有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結(jié)合高性能和易用性,HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的,同時(shí)有HORIBA
在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持,您可以自信地使用這一技術(shù)。

一個(gè)工具多種可能:AFM-拉曼有助于您提高效率

● 快速找到納米對(duì)象
    由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性,拉曼峰信號(hào)較強(qiáng),因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后,我們可以對(duì)感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

● 交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù) 
    拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性,例如前面研究的石墨烯,AFM形貌的對(duì)比度較差而難以確定層厚,拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息,此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息,此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息
    在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí),有時(shí)僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息,這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的。

 


 探索TERS(針尖增強(qiáng)拉曼散射)領(lǐng)域  

 TERS(或納米拉曼)可以綜合兩種技術(shù)之優(yōu)勢(shì):可獲得空間分辨率低至2nm(一般低至10nm)的化學(xué)特異性拉曼光譜成像。該技術(shù)可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。  


多種光學(xué)配置HORIBAAFM-拉曼平臺(tái)支持多種光學(xué)方案:

 

底部耦聯(lián):針對(duì)透明樣品

頂部耦聯(lián):針對(duì)共點(diǎn)拉曼或傾斜針尖的TERS

側(cè)向耦聯(lián):測定不透明樣品的TERS的解決方案

可提供多端口和并排配置


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