本設(shè)備令I(lǐng)GBT/IPM (Intelligent power transistor) /DIODE消耗規(guī)定的電量，并在規(guī)定時間內(nèi)間歇式供電，籍此評估樣品的可靠性。同時也可測量熱阻。相關(guān)數(shù)據(jù)存放于HOST PC中。亦兼?zhèn)銲PM、DIODE的測試。
| 通電模式 | 連續(xù)、間歇（可以測試熱抗） | |
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| 通電電源 | 恒流 | ～800A max |
| 開路電壓 | 16V | |
| Vce設(shè)置 | ～10.0V?。↖GBT情況下，VGE為自動控制） | |
| 時間設(shè)置 | 通電時間 | 0.5～600.0sec. |
| 停止時間 | 1～3600sec. | |
| 次數(shù)設(shè)置 | 循環(huán)次數(shù) （運轉(zhuǎn)模式通用) | 999999次 |
| 間歇運行次數(shù)（帶計數(shù)器功能） | 9999999次 | |
| 運行模式 |
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| 溫度調(diào)整 | 強制風冷散熱器 | |
電源模塊靜態(tài)特性測量設(shè)備
電源模塊動態(tài)特性測量設(shè)備
電源模塊瞬態(tài)熱電阻測量設(shè)備
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