日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計(jì)是采用電磁、渦流一體的小型膜厚計(jì)，無(wú)需人工轉(zhuǎn)換，探頭自動(dòng)識(shí)別磁性和非磁性金屬底材，準(zhǔn)確無(wú)誤地讀出電磁和渦流模式的覆蓋層厚度。
日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計(jì)產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計(jì)是采用電磁、渦流一體的小型膜厚計(jì)，無(wú)需人工轉(zhuǎn)換，探頭自動(dòng)識(shí)別磁性和非磁性金屬底材，準(zhǔn)確無(wú)誤地讀出電磁和渦流模式的覆蓋層厚度。有儲(chǔ)存、統(tǒng)計(jì)處理、數(shù)據(jù)輸出等15種功能，還有手動(dòng)和自動(dòng)兩種開(kāi)關(guān)模式，四種語(yǔ)言菜單顯示，輕便小巧，利于攜帶。
日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計(jì)測(cè)量范圍0~2000μm，帶線探頭，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)約1000個(gè)，LCD數(shù)字顯示器。
日本KETT LZ-990渦磁兩用式膜厚計(jì)技術(shù)參數(shù)：
測(cè)定方法：電磁、渦電流式兼用(自動(dòng)識(shí)別)
測(cè)定對(duì)象：磁性金屬上非磁性涂鍍層、非磁性金屬上絕緣層
測(cè)量范圍： 0-2000μm/0-80mils
測(cè)量精度： <50μm±1μm >50μm<1000μm±2% >1000μm±3%
測(cè)試面積： ≥5x5mm
使用溫度范圍： 0-40℃
分辨率： ≤100μm 0.1μm >100μm 1μm
數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)： 測(cè)試次數(shù)、較大/較小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
應(yīng)用程序存儲(chǔ)器： 電磁式、渦流式各8種，共計(jì)16條校正曲線的記憶
外部輸出： 電腦(USB)或打印機(jī)(RS-232C)
尺寸、質(zhì)量： 82(W)×99.5(D)×32(H)毫米，約160克
附件： 零板、標(biāo)準(zhǔn)板、電池、合格證、說(shuō)明書(shū)、掛件
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)： 約1000個(gè)，較小值為0.1μm
功能：測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，刪除
數(shù)據(jù)輸出，組區(qū)分，自動(dòng)電源ON / OFF功能
上下限的設(shè)定，統(tǒng)計(jì)計(jì)算，背光功能，單位設(shè)定
包裝清單：主機(jī) 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片，一個(gè)F/NF基體
