利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。

X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設(shè)備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。

它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。

鍍層測厚儀X-Strata系列提供：

無損分析：無需樣品制備

經(jīng)行業(yè)認證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益

操作簡單，只需要簡單的培訓

分析只需三步驟

杰出的分析準確性和精確性

在鍍層測厚領(lǐng)域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗

使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時降低成本。