為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時(shí)快速得到**辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當(dāng)您對樣品進(jìn)行掃描時(shí)，無論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的**辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。

高效率
- 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié) 和檢測器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，**縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。
- 自動(dòng)測量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。

**辨率
- Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時(shí)，延長了探針的使用壽命。
- 掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
- 低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。

在任何樣品上均有**表現(xiàn)
- 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有**的熱漂移率，可得到超**辨的真實(shí)圖像。
- Fast Scan可以對不同樣品進(jìn)行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高精度無失真掃描。

性能特點(diǎn)

AFM**性能

Dimension FastScan AFM **的分辨率，與Bruker的電子掃描計(jì)算方法相結(jié)合，提供給用戶**提升的測量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)**的針尖掃描技術(shù)的**革新，配置了溫度補(bǔ)償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個(gè)驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝**辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當(dāng)今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針?biāo)惴ㄏ嘟Y(jié)合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
杰出的生產(chǎn)力

使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠(yuǎn)比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個(gè)標(biāo)志性的符號。FastScan把此平臺引入了更**的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往***的AFM技術(shù)更加簡便?？梢允钩鯇W(xué)者在操作中，同樣得到專家級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個(gè)方面—從開放式針尖樣品空間，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能，保證您在*短時(shí)間內(nèi)得到測試結(jié)果并發(fā)表出版。
世界上*靈活的平臺

Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能，堅(jiān)固性和靈活度，使得這臺儀器實(shí)現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強(qiáng)大的功能展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。
出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求

Dimension FastScan可同時(shí)高速捕捉多個(gè)通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù)，模式和模式增強(qiáng)功能，Dimension FastScan以其的性能優(yōu)勢，幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像

FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù)，**減少了研究者獲得**辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時(shí)間。

納米操縱

可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng)，**提高了操縱的精確度。同時(shí)**噪音的精密探針的準(zhǔn)確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。
加熱和冷卻

在以各種AFM 模式掃描的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。
電學(xué)表征

使用的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了的電學(xué)表征方法，同時(shí)還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。
利用*短時(shí)間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果

無論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運(yùn)用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的處理分析。
樣品篩選

利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進(jìn)行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級的質(zhì)量控制，及時(shí)的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時(shí)，高**度成為條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選，這可能成為FastScan的一個(gè)新用途。
動(dòng)態(tài)應(yīng)用范例

另一種常見的應(yīng)用是觀察一個(gè)納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時(shí)間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動(dòng)態(tài)變化觀察都是研究價(jià)值的。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗(yàn)提供了極為便利的條件。

應(yīng)用領(lǐng)域

AFM可適用于各種的物品，如金屬材料、**子聚合物、生物細(xì)胞等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進(jìn)行不同物性分析，所以AFM**的特點(diǎn)是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作，因此，AFM在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有**的應(yīng)用。
原子力顯微鏡研究對象可以是有機(jī)固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等。
研究生物醫(yī)學(xué)樣品和生物大分子的重要工具之一。AFM應(yīng)用主要包括三個(gè)方面：生物細(xì)胞的表面形態(tài)觀測；生物大分子的結(jié)構(gòu)及其他性質(zhì)的觀測研究；生物分子之間力譜曲線的觀測。
AFM還可對原子和分子進(jìn)行操縱、修飾和加工，并設(shè)計(jì)和創(chuàng)造出新的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)。