Park FX40
納米科學(xué)研發(fā)界應(yīng)運而生的的
新型全自動原子力顯微鏡
該產(chǎn)品可以通過多樣化的應(yīng)用程序，不費吹灰之力即可獲得最敏銳、最清晰、分辨率的掃描圖像。
通過的速度和精度，推動您研發(fā)進步并助力您的科學(xué)新發(fā)現(xiàn)——FX40將人工智能運用得，全自動化的過程能實現(xiàn)用戶納米級顯微鏡的需求。額外的軸向自動激光校準(zhǔn)、早期預(yù)警系統(tǒng)和故障自動保險、同步化信息提取和存儲，讓即便是未經(jīng)原子力顯微鏡專業(yè)培訓(xùn)的研究科學(xué)家們也可以輕松快速地獲得的掃描結(jié)果。
納米級的顯微鏡
硬核級的科技進步
- 鼎力相助時代前沿的科技研發(fā)
- 研究型AFM中采用的雙攝像頭系統(tǒng)
- 能全自動化實時更新海量數(shù)據(jù)
實現(xiàn)全自動技術(shù)的智能原子力顯微鏡
Park FX只需鼠標(biāo)一鍵操作，就能實現(xiàn)自動換針，以避免探針被污染或因操作不當(dāng)而導(dǎo)致的探針損壞等問題。用戶還可以根據(jù)提示，選擇不同的探針類型，應(yīng)用類型和使用信息等。
通過自動換針方式，用戶可輕松安全地進行自動換針。利用裝有8個針盒和磁控機制的便利性，用戶無需操作便可安裝探針。
探針識別攝像頭可以加載探針芯片載體上的二維碼，提取并顯示每個可用探針的探針類型，應(yīng)用類型和使用信息等全部相關(guān)信息。
自動激光校準(zhǔn)功能將SLD光定位到懸臂梁的適當(dāng)位置，并進一步分別優(yōu)化PSPD的垂直和橫向位置。用戶只需簡單點擊，移動X,Y和Z軸便可得到毫不失真的高清掃描圖。
雙攝像頭系統(tǒng)
自動校準(zhǔn)探針和樣品位置
樣品攝像頭
樣品臺上最多可以同時放置四個不同量級的樣品。即便如此，樣品攝像頭也可以毫不費力地定位到相關(guān)位置進行精確掃描。
探針識別攝像頭
探針識別系統(tǒng)可以幫助用戶搜索相關(guān)探針的全部信息（包括探針類型，應(yīng)用類型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一鍵便可輕松選擇您所需要的探針。
智能自動化
FX40擁有的智能視覺系統(tǒng)，能自動檢測探針是否正確定位。軟件界面通過定位加載探針的位置至納米級別，并在必要時生成錯誤狀態(tài)報告，同時將這些數(shù)據(jù)與成千上萬個可能發(fā)生的模擬問題進行比較，以此不斷更新升級軟件。
原子力顯微鏡中速精確的真正非接觸模式
對于針尖樣品，非接觸模式展現(xiàn)了其的控制力，距離達到了亞納米級別。Park FX40擁有的快速且精確的非接觸模式。
環(huán)境傳感器
智能掃描儀顯示并儲存?zhèn)鞲衅鞯臏y量。傳感器主要測量基本的環(huán)境條件，如溫度，濕度，水平和振動。由此幫助用戶在不同環(huán)境條件下掃描圖像，為您篩選的環(huán)境指標(biāo)。
安全的探針安裝系統(tǒng)
用戶可以自選手動或自動探針安裝功能，同時內(nèi)置的智能系統(tǒng)會自動檢測并在用戶錯誤安裝探針時發(fā)出警告，從而有效提高測量精準(zhǔn)度。
AFM體驗——專為FX設(shè)計的Park OS SmartScan
簡易單擊成像
設(shè)置
自動探針檢測，自動激光校準(zhǔn)
簡要的教學(xué)動畫分分鐘讓您學(xué)會如何進行樣品放置以及儀器成像設(shè)置
1. 精準(zhǔn)定位
定位樣品位置
AFM自動執(zhí)行懸臂的頻率性掃描，接近樣品的Z移動臺, 然后自動聚焦，幫助您掃描任何您想要的區(qū)域。
2. 高清成像
自動識別探針
完成定位之后，系統(tǒng)會設(shè)置理想的參數(shù)，連接懸臂并掃描樣品，直到為您掃出高解析度高分辨率的圖像。
