FT-IR 光譜儀
VERTEX 70v
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
VERTEX70v為要求嚴(yán)格的分析和研究應(yīng)用提供了超高性能。創(chuàng)新意義的設(shè)計(jì)成就了該系列譜儀的靈活性和的性能。數(shù)據(jù)采集使用delta-sigma自激型數(shù)/模轉(zhuǎn)換器，該轉(zhuǎn)換器具備真正的24位ADC動(dòng)態(tài)范圍。布魯克技術(shù)DigiTect將此數(shù)模轉(zhuǎn)換器與檢測(cè)器自帶的電子前置信號(hào)放大器整合到一起。限度地避免了外界模擬信號(hào)對(duì)光譜的干擾，確保了出色的信噪比。
VERTEX 70系列--德國(guó)布魯克紅外光譜儀是世界上一臺(tái)數(shù)字化的紅外光譜儀，擁有能適應(yīng)各種上等分析、研究以及各種特殊應(yīng)用需求的上等性能。
VERTEX 70系列--德國(guó)布魯克紅外光譜儀內(nèi)置HTML服務(wù)器通過網(wǎng)卡與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊；EQUINOXTM磚利技術(shù)將光譜儀器“平臺(tái)化，積木化”的理想變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)；使廣大FT-IR用戶擁有眾多、靈活的選擇。
VERTEX 70系列--德國(guó)布魯克紅外光譜儀主要特點(diǎn)：
1.多機(jī)聯(lián)用：為用戶提供多個(gè)光束的輸入輸出口，供用戶連接不同的附件。
2.步進(jìn)掃描：開創(chuàng)step-scan，獲R&D100金獎(jiǎng)
3.時(shí)間分辨: 快速掃描95張/秒、步進(jìn)掃描；5ns
4.波段擴(kuò)展:三光源、多檢測(cè)器、可見光多譜帶轉(zhuǎn)換自如
5.的穩(wěn)定性和靈敏度
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1，的光譜分辨率
2，全真空、可吹掃或密封干燥式光學(xué)臺(tái)克服大氣干擾
3，最多的軟件可控外光路擴(kuò)展接口
4，分束器更換簡(jiǎn)單快捷、無(wú)需重新調(diào)整干涉儀，實(shí)現(xiàn)紫外、可見光、近紅外及遠(yuǎn)紅外/太赫茲波段的譜區(qū)擴(kuò)展
5，全自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)配件及測(cè)量附件
6，強(qiáng)大的步進(jìn)掃描/慢掃描功能滿足光譜的時(shí)間分辨及各種調(diào)制應(yīng)用
VERTEX 70系列--德國(guó)布魯克紅外光譜儀 VERTEX 70系列--德國(guó)布魯克紅外光譜儀是Bruker公司集40年的紅外光譜儀的制造經(jīng)驗(yàn)，該儀器采用多項(xiàng)技術(shù)，使得Bruker公司的紅外光譜儀性能更優(yōu)異，使用更方便。
VERTEX 70系列--德國(guó)布魯克紅外光譜儀采用的新技術(shù)有：
1. RockSolid干涉儀，Bruker的技術(shù)；
2. DigiTect技術(shù)，檢測(cè)器為數(shù)字檢測(cè)器，Bruker的技術(shù)；
3. BRAIN技術(shù)，Bruker的人工智能網(wǎng)絡(luò)技術(shù)，隨時(shí)反饋儀器的狀態(tài)；
4. ACR技術(shù)，光學(xué)組件的自動(dòng)識(shí)別，并將參數(shù)反饋到OPUS紅外光譜軟件中；
另外，由于Bruker的全新的數(shù)字化設(shè)計(jì)，用戶還能對(duì)儀器進(jìn)行Validation（校驗(yàn)）測(cè)試，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。
全真空光學(xué)臺(tái)設(shè)計(jì)
其全真空的光學(xué)設(shè)計(jì)，使VERTEX 70v在中紅外、近紅外及遠(yuǎn)紅外譜區(qū)具備的靈敏度，使用戶無(wú)需再擔(dān)心水蒸氣或二氧化碳的吸收會(huì)干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號(hào)。該真空譜儀已被廣泛應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域，并成功獲取了亞單分子層薄膜的信息。
BRUKER FM FIR-MIR 光譜
的布魯克FM技術(shù)，您只需一次測(cè)量，即可獲得6000 cm-1 至 50 cm-1 的中遠(yuǎn)紅外波段全譜。擁有它，無(wú)需再轉(zhuǎn)換任何光學(xué)元件。
寬光譜范圍
通過采用不同的光學(xué)配件 VERTEX 70v 可以覆蓋從遠(yuǎn)紅外 10 cm-1 到紫外光區(qū) 28.000 cm-1 的超寬光譜區(qū)域。準(zhǔn)直的 RockSolidTM 高性能干涉儀使不同譜區(qū)的切換變得十分快捷簡(jiǎn)易，無(wú)需重新調(diào)整光路準(zhǔn)直。
人工智能系統(tǒng)
人工智能系統(tǒng)包含自動(dòng)識(shí)別測(cè)量附件、自動(dòng)識(shí)別光學(xué)配件、自動(dòng)調(diào)用及檢查測(cè)量參數(shù)，使得傅立葉紅外光譜測(cè)量變得更簡(jiǎn)單、更快速且更可靠。另外，實(shí)時(shí)在線監(jiān)控系統(tǒng)簡(jiǎn)化了對(duì)儀器工作狀態(tài)和性能指標(biāo)的監(jiān)測(cè)工作。一體化的軟件包將全面支持上述功能。
即插即用：使用簡(jiǎn)便
無(wú)論何時(shí)何地，只要插上電源，連接以太網(wǎng)，VERTEX 70v光譜儀即可開始正常工作。VERTEX 70v光譜儀采用了以太網(wǎng)式連接，客戶可以通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)對(duì)譜儀進(jìn)行遠(yuǎn)程操控。
VERTEX 70v 研究級(jí)傅立葉變換紅外光譜儀以其的性能和無(wú)以倫比的靈活性，成為當(dāng)前常規(guī)分析應(yīng)用以及科學(xué)研究的。
所用技術(shù)受以下一項(xiàng)或多項(xiàng)保護(hù)：US 7034944
應(yīng)用領(lǐng)域
VERTEX 70v真空光譜儀非常適用于需要高靈敏度、高穩(wěn)定性和高時(shí)間分辨率的研究應(yīng)用。低至遠(yuǎn)紅外/太赫茲的光譜范圍，使之還適用于工業(yè)領(lǐng)域的特定應(yīng)用。多功能VERTEX 70v系統(tǒng)通過與適當(dāng)?shù)母郊跋鄳?yīng)的測(cè)試技術(shù)相結(jié)合，可為FTIR光譜分析領(lǐng)域幾乎所有需求提供解決方案。
研發(fā)
用于時(shí)間分辨以及幅度調(diào)制（AM）相位調(diào)制（PM）光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù) (步進(jìn)掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時(shí)間分辨光譜 TRS)
超高真空中的FT-IR光譜分析
用于電極表面和電解質(zhì)的原位研究的FT-IR光譜電化學(xué)
蛋白質(zhì)水溶液研究 (CONFOCHECK)
確定分子的構(gòu)型 (VCD)
制藥
通對(duì)藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征（TGA-FT-IR）
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分的多晶型物（BRUKER FM）
聚合物與化學(xué)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識(shí)別聚合物復(fù)合材料中的無(wú)機(jī)填料（BRUKER FM）
聚合物動(dòng)態(tài)和流變學(xué)研究
測(cè)定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程（TGA-FTIR）
反應(yīng)監(jiān)測(cè)和反應(yīng)控制 (中紅外光纖探頭)
識(shí)別無(wú)機(jī)礦物質(zhì)和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測(cè)與表征
結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析（PM-IRRAS）
材料科學(xué)
光學(xué)和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征
通過光聲光譜學(xué)（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量的測(cè)定進(jìn)行質(zhì)量控制
外部附件、源和探測(cè)器
VERTEX 70v 真空光譜儀配備五個(gè)光束出口端口和兩個(gè)光束輸入端口，可隨時(shí)升級(jí)具有外部測(cè)量附件、源和探測(cè)器的系統(tǒng)。這包括以下內(nèi)容：
