什么是潛在誘導(dǎo)退化（PID）測(cè)試？

PID測(cè)試是對(duì)制造的模塊進(jìn)行的質(zhì)量保證測(cè)試，以預(yù)測(cè)它們?cè)诓煌瑮l件下長時(shí)間的性能。對(duì)于太陽能組件的PID測(cè)試，將組件置于85°C的溫度下，濕度約為85%，并在1000v負(fù)載下持續(xù)96小時(shí)。PID測(cè)試模擬組件暴露在的次電壓和溫度條件下的功率損耗。

如何進(jìn)行潛在誘導(dǎo)退化（PID）試驗(yàn)？

為了進(jìn)行測(cè)試，在兩個(gè)金屬電極之間放置了一組像模塊一樣的太陽能電池、聚合物箔和玻璃層堆棧。在加熱底部（接地）電極的同時(shí)，在模塊的上部電極上施加高正電壓（電壓相當(dāng)于PID）。