FTIR顯微ATR
顯微鏡中的
帶集成壓力傳感器的電動ATR晶體
ATR模式下的FPA成像
在ATR、透射和反射模式之間快速切換
高精度樣品臺
自動測量
的ATR
LUMOS II 是一款易于使用的獨立式 FTIR 顯微鏡，在任何測量模式下均具有性能。無論是透射、反射還是衰減全反射 (ATR)，LUMOS II 始終是正確的選擇。
但它的優(yōu)勢是 ATR 顯微技術(shù)。
FTIR 顯微技術(shù)中 ATR 的適用性令人驚奇，結(jié)合FPA 成像可以進(jìn)一步增強它的適用性。這使得 LUMOS II 成為故障分析和產(chǎn)品開發(fā)的常用工具。
ATR 在顯微技術(shù)中的優(yōu)勢
誠然，每種技術(shù)都有其優(yōu)點和缺點。在 FTIR 顯微技術(shù)中，透射和反射面臨著類似的限制因素限制其適用性。
相比之下，ATR 在無需樣品制備的情況下，幾乎可為任何樣品類型提供高品質(zhì)的 FTIR 數(shù)據(jù)。此外，它還提供高空間分辨率。
與透射和反射測量相比，在ATR中，鍺晶體充當(dāng)固體浸沒透鏡，將空間分辨率提高 4 倍。這樣，您可以輕松分析小至幾微米的樣品。
在透射中，樣品必須足夠薄以使紅外輻射穿透。對于大多數(shù)樣品，這需要耗時的樣品制備，例如使用精細(xì)切片機切片。
如果要檢測小纖維或微粒，必須使用昂貴的紅外透明的濾膜和壓片單元。
在反射中，樣品需具備光滑的、拋光的紅外反射表面，或者放在鋁鏡或金鏡上。在后一種情況下，樣品也必須非常薄才能有足夠的紅外線通過，從而獲得合適的紅外光譜。此外，反射光譜通常需要特殊的數(shù)據(jù)處理以進(jìn)行評估。
持久和強大的應(yīng)用
對我們來說，向客戶交付技術(shù)是理所應(yīng)當(dāng)?shù)氖?。這也適用于 LUMOS II。
RockSolidTM 干涉儀可確保恒定的性能，而現(xiàn)代電子設(shè)備可確保機械精度和低能耗。同時，軟件可監(jiān)控儀器的有效性并始終確保正確的功能。
無限可能，待您探索
FTIR 成像的應(yīng)用非常多樣。上面的例子概述了 ATR-FTIR 顯微技術(shù)的實用性。無論是產(chǎn)品開發(fā)、故障分析還是識別古代壁畫的成分 — LUMOS II 都能從容高效地完成這一切。
