在過去幾年中，金屬材料的品制備變得越來越重要，直讀光譜儀OES和X射線熒光光譜儀 XRF設(shè)備的快速發(fā)展改進改變了痕量分析的檢測限，但前期正確的樣品制備對光譜分析數(shù)據(jù) 的穩(wěn)定性和檢測限至關(guān)重要。樣品必須具有代表性、均勻性和均勻表面，以消除可能影響結(jié)果 的因素。

光譜磨樣機

STM -3

     在過去幾年中，金屬材料的品制備變得越來越重要，直讀光譜儀OES和X射線熒光光譜儀 XRF設(shè)備的快速發(fā)展改進改變了痕量分析的檢測限，但前期正確的樣品制備對光譜分析數(shù)據(jù) 的穩(wěn)定性和檢測限至關(guān)重要。樣品必須具有代表性、均勻性和均勻表面，以消除可能影響結(jié)果 的因素。

STM-3是一款高耐用性的制樣設(shè)備，用于光譜樣品的制備。

緊湊科學(xué)的設(shè)計使其非常實用且耐用。

具有低噪音和低粉塵。

滿足大量樣品制備要求。

磨盤動態(tài)平衡，運行平穩(wěn)。

有專屬除塵系統(tǒng)，可放置在實驗室內(nèi)使用。

使用40?120目的紗布或砂輪來獲得所需的表面質(zhì)量。

我司特別定制的砂布，不僅耐磨且磨樣平整度更優(yōu)。

研磨盤的大部分由蓋子覆蓋，操作更安全，且有緊急制動開關(guān)。

1400轉(zhuǎn)/分滿足不同種類材料使用且兼具安全性。

可選配特制夾具，解決樣品夾持問題且磨樣一致性更好。