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MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光譜儀

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微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)

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微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質(zhì)量控制和驗證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

基于X-熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

應(yīng)用

 

PCB / PWB 表面處理

控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴(yán)控的范圍內(nèi)持續(xù)運營,確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。

電力和電子組件的電鍍

零件須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍,以達到預(yù)期的電力、機械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品 ,可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品,從而達到引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。

IC 載板

半導(dǎo)體器件越來越小巧而復(fù)雜,需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計為可為客戶所需應(yīng)用提供高準(zhǔn)確性分析,及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。

服務(wù)電子制造過程 (EMS、ECS)

結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個測試點,實現(xiàn)從進廠檢查到生產(chǎn)線流程控制,再到產(chǎn)品質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和產(chǎn)品,確保每個階段的質(zhì)量。

光伏產(chǎn)品

對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準(zhǔn)確度和連貫性,從而確保效率。

受限材料和高可靠性篩查

與復(fù)雜的供應(yīng)鏈合作,驗證和檢驗從供應(yīng)商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù),根據(jù)IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求,確保高可靠性涂鍍層被應(yīng)用于航空和軍事領(lǐng)域。


 

X-Strata 920
正比計數(shù)器

MAXXI 6
高分辨率SDD

ENIG

★★☆

★★★

ENEPIG

★★☆

★★★

非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)

★★★

非電鍍鎳厚度

★★☆

★★★

浸鍍銀

★★☆

★★★

浸鍍錫

★★☆

★★★

HASL

★★☆

★★★

無鉛焊料(如 SAC)

★☆☆

★★★

CIGS

★★★

CdTe

★★★

納米級薄膜分析

★★★

多層分析

★★☆

★★★

IEC 62321 RoHS 篩選

★★★

 

 

 

耐腐蝕性

檢驗所用涂層的厚度和化學(xué)性質(zhì),以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。

耐磨性

通過確保磨蝕環(huán)境中關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻度,預(yù)防產(chǎn)品故障。復(fù)雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。

裝飾性表面

當(dāng)目標(biāo)是實現(xiàn)無瑕表面時,整個生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制至關(guān)重要。通過日立分析儀器的多種測試設(shè)備,您可以可靠地檢測基材,中間層和頂層厚度。

耐高溫

在條件下進行的零件的表面處理須被控制在嚴(yán)格公差范圍內(nèi)。確保符合涂鍍層規(guī)格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災(zāi)難性故障。


 

X-Strata 920
正比計數(shù)器

MAXXI 6
高分辨率SDD

Zn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金
Ni / Fe, Fe 合金

★★☆

★★★

ZnNi / Fe, Fe 合金
ZnSn / Fe, Fe 合金

★★☆

★★★

NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al

★★☆
(僅厚度)

★★★
(厚度和成分)

Ag / Cu
Sn / Cu

★★☆

★★★

Cr / Ni / Cu / ABS

★★☆

★★★

Au / Pd / Ni /CuZn

★★☆

★★★

WC / Fe, Fe 合金
TiN / Fe, Fe 合金

★★☆

★★★

納米級薄膜分析

★★★

多層分析

★★☆

★★★

IEC 62321 RoHS 篩選

★★★

 

 

 

型號

 

憑借較高的分辨率和效率 SDD,MAXXI 6 是測量薄涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個準(zhǔn)直器,能夠處理具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用。巨大的開槽室設(shè)計是小、大或長樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學(xué)鍍鎳應(yīng)用中的%P。

X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置,以應(yīng)對各種不同的樣本形狀和尺寸。標(biāo)準(zhǔn)臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤,可快速被配置,以搭配小或大零件(6英寸)。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。

X-Strata 920

  • 正比計數(shù)器系統(tǒng)

  • 元素范圍:鈦 - 鈾

  • 樣品艙設(shè)計:開槽

  • XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺

  • 樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米

  • 數(shù)量準(zhǔn)直器:6

  • 濾波器:3

  • 準(zhǔn)直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

  • SmartLink 軟件

MAXXI 6

  • 高分辨率 SDD

  • 元素范圍: 鋁 - 鈾

  • 樣品艙設(shè)計:開槽

  • XY 軸樣品臺選擇:固定臺、自動臺

  • 樣品尺寸:500 x 450 x 170毫米

  • 數(shù)量的準(zhǔn)直器:8

  • 濾波器:5

  • 準(zhǔn)直器: 0.05 x 0.05毫米(2 x 2 mil)

  • SmartLink 軟件


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