快速、準(zhǔn)確地分析納米級鍍層FT160臺式XRF分析儀旨在測量當(dāng)今PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件

快速、準(zhǔn)確地分析納米級鍍層

FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。準(zhǔn)確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。

FT160 的多毛細(xì)管光學(xué)元件可以測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機(jī)發(fā)生前提醒您。

產(chǎn)品亮點

FT160 的光學(xué)和檢測器技術(shù)專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，針對最小的特征進(jìn)行了優(yōu)化。

用于從安全距離查看分析的大觀察窗

測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標(biāo)準(zhǔn)

IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測

用于快速樣品設(shè)置的自動特征定位

為您的應(yīng)用優(yōu)化的分析儀配置選擇

在小于 50 μm 的特征上測量納米級鍍層

將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍

可容納各種形狀的大型樣品

專為長期生產(chǎn)使用的耐用設(shè)計