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日本電子(JEOL)氣質(zhì)聯(lián)用儀JMS-Q1500GC

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JMS-Q1500GC是日本電子2017年推出的氣相色譜-四極桿質(zhì)譜聯(lián)用儀,具有性能好和的四極桿質(zhì)譜技術(shù)性能,適用于很多應(yīng)用場合如環(huán)境分析中的農(nóng)用化學(xué)品、霉味分析,材料分析,以及嗅探分析等

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  • JMS-Q1500GC 是日本電子2017年推出的氣相色譜-四極桿質(zhì)譜聯(lián)用儀,具有性能好和的四極桿質(zhì)譜技術(shù)性能,適用于很多應(yīng)用場合如環(huán)境分析中的農(nóng)用化學(xué)品、霉味分析,材料分析,以及嗅探分析等。
  • 通過提高引入式透鏡技術(shù),SCAN模式下,靈敏度達到的S/N=1000:1 (1pg OFN)。在SIM模式下,儀器的檢出限達到10fg OFN。
  • ◇ 靈敏模式的SCAN模式和SIM模式


  • 進樣次數(shù) RT.(min) Area 相對標(biāo)準偏差 IDL
    1 5.57 3065

    2 5.57 2902

    3 5.57 2981

    4 5.57 2955

    5 5.57 3028

    6 5.57 3024

    7 5.57 2987

    8 5.57 3053 1.8% 6.3fg

  • EIC(m/z 272) from 8 times sequential measurement of 100fg OFN by SIM
  • ◇ 功能 “PEAK DEPENDENT SIM”

  • 不再需要繁瑣的分組設(shè)置, “PEAK DEPENDENT SIM” 可以自動設(shè)置分組,任何人都能在優(yōu)化的SIM條件下方便地進行測試。SIM測試中每組最多有100個通道,最多有300組。此外,每個通道的采集時間在0.1ms以上,可以任意設(shè)定*。 (*取決于選擇的SIM設(shè)置模式。)

  • PEAK DEPENDENT SIM 條件和通常的SIM條件的靈敏度對比
    PEAK DEPENDENT SIM條件下的靈敏度是通常的SIM條件下獲得的靈敏度的2.4~5.5倍(3種農(nóng)藥成份對比)。


  • ◇ 維護成本更低
  • JMS-Q1500GC采用了大離子源窗口設(shè)計,便于維護保養(yǎng),離子源的取出和插入離子化室都無需工具。

  • ◇ GC/MS綜合分析軟件“Escrime™”

  • Escrime軟件旨在為GC/MS數(shù)據(jù)的解析提供更簡單、更有效的綜合分析,并提供了新的用戶界面。新開發(fā)的定性分析軟件將定性分析所需要的信息整合到了一個窗口。譜峰列表(Peak List)管理所有的譜峰信息,能較快地進行譜圖分析、譜庫檢索及生成色譜圖等。

  • 為了使定性分析和定量分析的分析條件易于調(diào)整,新的Escrime 和msPrimo軟件包直接銜接,操作的整體方便性得到了明顯的提升,適合對多樣品、多成分進行定量分析的軟件。定量分析結(jié)果的報告書格式可根據(jù)需要編輯和制作。

  • ◇ 內(nèi)容更加豐富的解決方案

  • *自動頂空進樣器(HS) GC/MS系統(tǒng)

  • 自動頂空進樣器是用來分析含有揮發(fā)性有機化合物(VOC)的固體、液體樣品的前處理裝置。 日本電子研發(fā)的自動頂空進樣器有定量環(huán)和捕集阱兩種標(biāo)配模式,是與眾不同的HS系統(tǒng)。從前用定量環(huán)模式難以測試的水中土霉味致嗅物質(zhì),現(xiàn)在檢測濃度可以低至1ppt。此外,它還適用于測試含有揮發(fā)性成分的食物、材料等。

  • 照片是日本電子的JMS-Q1500GC和自動頂空進樣器的組合系統(tǒng)

  • *熱裂解GC/MS系統(tǒng)

  • 熱裂解GC/MS系統(tǒng)是熱裂解儀與氣相色譜質(zhì)譜儀的聯(lián)用系統(tǒng)(PY-GC-MS)。利用熱裂解儀對樣品的熱萃取或熱裂解,分析由此產(chǎn)生的有機化合物。該系統(tǒng)可以用于聚合物材料的分析,例如合成聚合物、橡膠等。

  • 照片是Frontier Lab公司的多功能裂解器 (EGA/PY-3030D)、自動進樣系統(tǒng)(AS-1020E)和JMS-Q1500GC的PY-GC-MS的組合系統(tǒng)。
  • ◇ 直接進樣桿 DIP/ DEP

  • JMS-Q1500GC備有兩種直接進樣桿,可以根據(jù)樣品的形態(tài)、物性或分析目的選擇。

  • DIP: Direct Insertion Probe DEP: Direct Exposure Probe
  • ◇ 降低運行成本

  • 節(jié)能設(shè)計使得耗電量比舊機型減少了10%。

SCAN模式下,靈敏度達到S/N=1000:1 (1pg OFN)。在SIM模式下,儀器的檢出限達到10fg OFN,甚至更低。


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