波長色散X射線熒光光譜儀
一、波長色散X射線熒光光譜儀簡介
波長色散X射線熒光光譜儀S8 TIGER 4K有著高精密度和高準(zhǔn)確度的元素分析技術(shù)，和化學(xué)價(jià)態(tài)無關(guān)，直接的、非破壞性地分析固體、松散粉末和液體樣品，制樣容易，只需幾分鐘，操作方法安全，無需有害化學(xué)試劑。波長色散X射線熒光光譜儀其分析性能很好，激發(fā)電流170mA，激發(fā)電壓60kV，可以4KW滿功率運(yùn)行，輕元素分析性能也很好，光路靈活，無需壓縮空氣，機(jī)柜防塵涉及，占地面積小。
二、波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)
1、高透光性的真空封擋
在測量液體和松散粉末樣品時(shí)，程序控制的真空封檔將樣品室和光譜室分開，允許在固體和液體樣品的分析之間快速地切換。由于只有很小的樣品室充氦氣（氮?dú)猓?，真空封擋顯著地降低氣體消耗量，同時(shí)探測器的穩(wěn)定性更高，結(jié)果的精密度更好。在測量過程中，的真空封擋也可以在液體樣品泄漏或有粉塵樣品時(shí)保護(hù)光譜室，防止被污染。真空封擋是S8 TIGER的樣品保護(hù)TM包的一部分。
2、高精度光學(xué)定位測角儀
采用高精度光學(xué)定位測角儀，定位精度高，測角儀直接到達(dá)預(yù)設(shè)角度，快速連續(xù)前進(jìn)，無需反復(fù)調(diào)整，長期運(yùn)行沒有磨損。角度準(zhǔn)確度優(yōu)于±0.001°，角度重現(xiàn)性優(yōu)于±0.0001°,*大掃描速度1200°/分鐘，*大轉(zhuǎn)角速度4800°/分鐘。
3、的變動(dòng)理論α系數(shù)法
采用基本參數(shù)法單獨(dú)地計(jì)算每一個(gè)樣品的校正系數(shù)，從而進(jìn)行**的集成的基體效應(yīng)校正，這就是變動(dòng)理論α系數(shù)法。其*顯著的優(yōu)點(diǎn)是：需要的標(biāo)樣量少、校正系數(shù)更可靠、校準(zhǔn)曲線可以適當(dāng)延伸、操作方便、不需要很多的經(jīng)驗(yàn)來選擇影響元素、對于大的材料范圍和很寬的濃度范圍都可以得到可靠的結(jié)果。同時(shí)兼容固定理論α系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)α系數(shù)法基體效應(yīng)校正，三種校正模式也可以混合使用。對于固定理論α系數(shù)法、變動(dòng)理論α系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法及混合校正方法只需一個(gè)用戶界面解決所有問題，非常易于使用。
4、的未知燒失量校正
對于燒失量或燒增量很大的樣品，通常的做法是將樣品預(yù)先灼燒，然后根據(jù)燒失量進(jìn)行反算或?qū)Я枯斎氲交w校正公式進(jìn)行校正，分析全鐵的時(shí)候還有用鈷做內(nèi)標(biāo)的。布魯克未知燒失量校正功能不用測量燒失量，軟件會(huì)根據(jù)其它分析成分估算一個(gè)LOI，然后經(jīng)過多次迭代和擬合，無需知道燒失量也可以進(jìn)行準(zhǔn)確的燒失量校正，大大地提高了分析速度也節(jié)約了分析成本。
5、角度偏移校正
校正價(jià)態(tài)、礦源差異等引起的峰位位移，測量結(jié)果更準(zhǔn)確。
6、幾何校正
通過直徑–厚度–密度、直徑–厚度–質(zhì)量或直徑–質(zhì)量–密度三種樣品制備選項(xiàng)對未達(dá)到X射線穿透飽和深度的樣品進(jìn)行幾何校正，從而得到更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。
7、制樣校正軟件
對用熔融制樣或粉末樣需加粘合劑的制樣方法，采用任意配比、隨意稱量、準(zhǔn)確輸入的方法，稱樣誤差小，稱樣速度快，不同的制樣方法可以共用同一工作曲線。
8、P10氣體密度穩(wěn)定器
在P10氣體鋼瓶與流氣正比計(jì)數(shù)器之間安裝有氣體密度穩(wěn)定器，使探測器里的氣體密度始終保持恒定，保證測量結(jié)果精密度更高。流氣計(jì)數(shù)器采用數(shù)字式壓力控制，控制更精密。
9、高穩(wěn)定性的光譜室
光譜室溫度穩(wěn)定性優(yōu)于±0.05℃，避免了溫度變化引起分光晶體的面間距變化，從而引起被測量元素光子衍射角度的變化。
10、采用真空度控制測量
對于固體樣品，采用真空度控制測量，只有達(dá)到預(yù)設(shè)的真空度才開始測量，避免了吸潮樣品在測試階段真空度的不一致引起強(qiáng)度計(jì)數(shù)的差異。
