X射線衍射儀，用于材料晶體結(jié)構(gòu)的表特征分析檢測，晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計算、進行軟件解析晶體的結(jié)構(gòu)。可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，

并形成了定性、定量的巖性識別方法.

還可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料。在材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、化工、聚合物、冶金、礦物、催化劑、鈦白粉、水泥、制藥、塑料,等眾多項目和行  

業(yè)中都有廣泛應(yīng)用，是科技院校和材料研究、生產(chǎn)和科研機構(gòu)、廠礦等單位的分析設(shè)備。