XT V 130和XT V 160X射線/CT檢測(cè)系統(tǒng)

尼康XT V系列包括用于電子元件（PCB、BGA、芯片設(shè)計(jì)等）無(wú)損檢測(cè)的X射線和CT檢測(cè)系統(tǒng)。

XT V 130和XT V 160

XT V系統(tǒng)范圍具有亞微米特征識(shí)別功能，可滿足當(dāng)今對(duì)復(fù)雜電子元件進(jìn)行高性能、無(wú)損檢測(cè)的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與業(yè)平板探測(cè)器相配，可產(chǎn)高品質(zhì)的圖像質(zhì)量，并在2D和3D檢測(cè)之間實(shí)現(xiàn)無(wú)縫轉(zhuǎn)換。

X射線源

尼康的Xi Nanotech X射線源，具備整體式發(fā)生器設(shè)計(jì)和160kV與20W功率的特點(diǎn)。

強(qiáng)大的圖像增強(qiáng)功能

High.Contrast Filter 通過(guò)在單幅清晰圖像中同時(shí)保證高低對(duì)比度區(qū)域的出色圖像質(zhì)量，從而揭示射線圖像中的隱藏細(xì)節(jié)。操作員現(xiàn)在可以比以往更快地識(shí)別樣品的各個(gè)方面，從而優(yōu)化和提高效率

PCB分析套件

BGA、鍵合線、PTH和多層板上的PoP等復(fù)雜封裝的高級(jí)測(cè)量和分析功能，具有自動(dòng)通過(guò)/失敗檢測(cè)和報(bào)告功能。

斜角同心成像

斜角視場(chǎng)高達(dá)90°，360°樣本旋轉(zhuǎn)，借助智能軟件和硬件保持感興趣區(qū)域。

規(guī)格比較