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- 公司名稱 北京世紀科信科學儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/5/29 17:27:42
- 訪問次數(shù) 153
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AFM-T教學型原子力顯微鏡采用小型化及可拆卸化設計,方便攜帶及教學, 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體,穩(wěn)定可靠;精密激光及探針定位裝置,更換探針及調(diào)節(jié)光斑簡單方便;
AFM-T教學型原子力顯微鏡主要特點 AFM-T教學型原子力顯微鏡應用范圍 產(chǎn)品介紹
技術參數(shù)
基本工作模式 輕敲模式、RMS-Z曲線測量 選配工作模式 接觸模式、F-Z力曲線測量、摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力和靜電力 樣品尺寸 Φ≤90mm,H≤20mm 掃描范圍 XY向20um,Z向2um 掃描分辨率 XY向0.2nm,Z向0.05nm 樣品移動范圍 0~13mm 光學參數(shù) 光學放大倍數(shù)4X,光學分辨率2.5um 掃描參數(shù) 掃描速率0.6Hz~4.34Hz,掃描角度0~360° 掃描控制 XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 反饋方式 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 通信接口 USB2.0/3.0 運行環(huán)境 WindowsXP/7/8/10操作系統(tǒng)
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