Smart Particle Investigator (SmartPI)是一款專為清潔技術(shù)領(lǐng)域的粒子分析而設(shè)計(jì)的軟件包。
SmartPI將ZEISS的傳統(tǒng)和FE-SEM顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)樽詣?dòng)表征的強(qiáng)大工具
單個(gè)應(yīng)用程序中有興趣的粒子。
使用此軟件進(jìn)行常規(guī)分析-它可以讓您執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)任務(wù)和自動(dòng)校準(zhǔn)，無(wú)需用戶輸入。
的用戶受益有多種測(cè)量參數(shù)和分類類型。
報(bào)告選項(xiàng)允許訪問比以往更多的信息。
使用SmartPI，您可以從SEM中獲得更多:數(shù)據(jù)采集加快，流程可以在夜間和周末運(yùn)行，無(wú)需監(jiān)視。
根據(jù)您的需求配置
樣品支架用于針、過(guò)濾器和嵌入樹脂上的顆粒
?簡(jiǎn)單的工作流程和友好的界面
自動(dòng)系統(tǒng)校準(zhǔn)啟動(dòng)和測(cè)量期間的間隔
?在不監(jiān)測(cè)過(guò)程的情況下連續(xù)測(cè)量多個(gè)樣品。

SmartPI自動(dòng)執(zhí)行以下任務(wù):
?每個(gè)視場(chǎng)的粒子定位
?用于表征形態(tài)學(xué)的*圖像分析
(大小和形狀)
?eds分析，識(shí)別粒子組成
?使用分類數(shù)據(jù)庫(kù)，根據(jù)類型對(duì)粒子進(jìn)行分組的所有數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)
?存儲(chǔ)的粒子圖像和數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)庫(kù)中使用
研究和報(bào)告
提供各種數(shù)據(jù)采集和創(chuàng)建報(bào)告的工具
簡(jiǎn)單。更聰明。更多的集成。
smartpi為您提供SEM控制，圖像處理和EDS分析的所有功能，以分析和表征顆粒。
?該系統(tǒng)允許您自動(dòng)進(jìn)行重復(fù)分析。
?獲得持續(xù)的、不受監(jiān)控的操作的好處。
?通過(guò)*小的操作輸入，獲得客觀的結(jié)果。
進(jìn)行分析，如顆粒計(jì)數(shù)，粒度測(cè)定和顆粒識(shí)別。
為您的應(yīng)用程序創(chuàng)建
將常規(guī)任務(wù)自動(dòng)化，讓你可以自由地專注于重要的事情，如檢查、描述和報(bào)告。
您可以建立全自動(dòng)快速分析。
由于您從數(shù)據(jù)采集的手動(dòng)任務(wù)中解脫出來(lái)，您可以利用節(jié)省下來(lái)的時(shí)間從數(shù)據(jù)中收集重要信息并做出明智的決定。
SmartPI是專為技術(shù)清潔而設(shè)計(jì)的。
它可以根據(jù)ISO 16232 / VDA 19和符合用戶規(guī)格自動(dòng)創(chuàng)建報(bào)告。
或者用它來(lái)對(duì)結(jié)果進(jìn)行動(dòng)態(tài)評(píng)估。
在相關(guān)粒子分析(CAPA)中，可以增加
通過(guò)使用SmartPI在光鏡和電子顯微鏡之間的相關(guān)工作流來(lái)提*工作效率和信息深度。