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鏡片反射率測定儀USPM-RU III

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具體成交價以合同協(xié)議為準

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特價說明：

促銷詳細：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價促銷

模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

USPM-RUIII反射儀可精確測量當(dāng)前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉

USPM-RU III反射儀可精確測量當(dāng)前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。是測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)。

消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。
不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。
可測定微小區(qū)域的反射率
用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。
測定時間短
由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測光機構(gòu)，可以進行快速、再現(xiàn)性很高的測定。
支持XY色度圖、L*a*b*測定
可以依據(jù)分光測色法，通過分光反射率測定物體顏色。
可以測定高強度鍍膜的膜厚
采用干涉光分光法，可以在不接觸、無損的情況下測定被檢物的膜厚（單層膜）。

測定波長	380 nm～780 nm
測定方法	與參照樣本的比較測定
被檢物N.A.	0.12（使用10×物鏡時） 0.24（使用20×物鏡時） * 與物鏡的N.A.不同。
被檢物W.D.	10.1 mm（使用10×物鏡時） 3.1 mm（使用20×物鏡時）
被檢物的曲率半徑	-1R ～-∞、+1R～∞
被檢物的測定范圍	約?60 μm（使用10×物鏡時）約?30 μm（使用20×物鏡時）
測定再現(xiàn)性（2σ）	±0.1%（380 nm～410 nm測定時） ±0.01%（410 nm～700 nm測定時）
顯示分辨率	1 nm
測定時間	數(shù)秒～十幾秒（因取樣時間而異）
光源規(guī)格	鹵素?zé)簟?2 V 100 W
載物臺Z方向驅(qū)動范圍	85mm
PC接口	USB方式
裝置重量	機身：約20 kg（PC、打印機除外）光源用電源：約3 kg 控制器盒：約8 kg
裝置尺寸	機身： 300（W）×550（D）×570（H） mm 光源用電源： 150（W）×250（D）×140（H） mm 控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm
電源規(guī)格	光源用電源： 100 V（2.8 A）/220 V AC 控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC
使用環(huán)境	水平且無振動的地方溫度： 23±5 °C 濕度： 60%以下、無結(jié)露