X-Strata920高效的X射線鍍層測(cè)厚儀
-Strata920是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。
The X-Strata920可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測(cè)量。
主要特點(diǎn)包括：;
§ 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
§ 可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個(gè)元素的鍍層厚度測(cè)試，自動(dòng)修正X射線重疊譜線
§ 的多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號(hào)）到鈾（92號(hào)）各元素
測(cè)厚行業(yè)20年知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)的積淀
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù), X-Strata920可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求：
§ 符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
§ 符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：X射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
§ 至多同時(shí)分析25種元素
| 日立儀器基于WindowsTM 的軟件SmartLinka，直觀、簡(jiǎn)單，使用戶的生產(chǎn)效率化： 界面主要部分： § A) 待測(cè)樣品放大的圖像 § B) 清晰的測(cè)試結(jié)果顯示：可選擇標(biāo)準(zhǔn)或大字符 § C) X射線波譜，顯示樣品中主要元素 § D) “Stop/Go” 一鍵測(cè)量
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SmartLink® 基本參數(shù)法（FP）軟件
| 日立儀器基于WindowsTM的SmartLinka FP軟件： § 基本參數(shù)法可不需或只需很少數(shù)量的標(biāo)樣。 § 儀器預(yù)裝了超過800種應(yīng)用參數(shù)/方法，便于建立測(cè)試程序和日常操作。 § 直觀的步驟，可在幾分鐘內(nèi)建立新方法。 § 如有結(jié)構(gòu)匹配的標(biāo)樣，基于FP方法的校正程序可提供可信的定量分析結(jié)果。 § 如沒有結(jié)構(gòu)匹配的標(biāo)樣，可建立一個(gè)純理論的校正程序。 § 如有全套標(biāo)樣，“經(jīng)驗(yàn)式的”感興趣區(qū)域（ROI）校正方法可以實(shí)現(xiàn)的準(zhǔn)確度。
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SmartLink®基本參數(shù)法分析
| 基本參數(shù)法可以快速、準(zhǔn)確第測(cè)量鍍層厚度和材料成分分析： § 基于FP的校準(zhǔn)覆蓋廣泛的厚度范圍包括復(fù)雜的多層應(yīng)用。 § 基于FP的校準(zhǔn)液覆蓋廣泛的材料。這對(duì)包含大量非常規(guī)任務(wù)的工作特別有用。 § 當(dāng)有限標(biāo)樣時(shí)，基于FP的校準(zhǔn)程序提供了可靠的定量分析的手段。 § 當(dāng)沒有標(biāo)樣時(shí)，可建立純理論的校準(zhǔn)程序進(jìn)行半定量分析。
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數(shù)據(jù)穩(wěn)定性：波譜校準(zhǔn)標(biāo)樣和自動(dòng)熱補(bǔ)償
| § 只需對(duì)日立儀器提供的波譜校準(zhǔn)（Spec-Cal）標(biāo)樣進(jìn)行簡(jiǎn)單、快速的測(cè)量，即可檢測(cè)儀器的性能，即靈敏度和檢測(cè)器的分辨率。測(cè)量結(jié)束時(shí)，儀器自動(dòng)完成校準(zhǔn)，保證儀器長期穩(wěn)定性。 § 自動(dòng)熱補(bǔ)償功能持續(xù)測(cè)量?jī)x器的溫度并做修正，保證短期和長期的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
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定性分析 – 波譜掃描（計(jì)數(shù)）
報(bào)告生成軟件（簡(jiǎn)潔版）
| § 可根據(jù)客戶的具體要求打印定制報(bào)告，如：用戶可使用預(yù)置模板或自制報(bào)告模板，并一鍵實(shí)現(xiàn)報(bào)告打印。 |
