研發(fā)領(lǐng)域?qū)Ｓ玫亩嗳肷浣羌す鈾E偏儀，采用多項(xiàng)技術(shù)，儀器硬件和軟件具有多項(xiàng)定制功能設(shè)計(jì)，適用于光面或絨面納米薄膜測(cè)量、塊狀固體參數(shù)測(cè)量、快速變化的納米薄膜實(shí)時(shí)測(cè)量等不同的應(yīng)用場(chǎng)合。 產(chǎn)品特點(diǎn)： 1.高精度、高穩(wěn)定性 2.一體化集成設(shè)計(jì) 3.測(cè)量簡(jiǎn)單 4.快速、高精度樣品方位對(duì)準(zhǔn) 5.多角度測(cè)量 6.實(shí)時(shí)測(cè)量 7.豐富的材料庫及物理模型 8.強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和管理功能 應(yīng)用領(lǐng)域： 可應(yīng)用于納米薄膜的幾乎所有領(lǐng)域，如微電子、半導(dǎo)體、生命科學(xué)、電化學(xué)、顯示技術(shù)、磁介質(zhì)及金屬處理等?？蓪?duì)納米層構(gòu)樣品的薄膜厚度和折射率n及消光系數(shù)k進(jìn)行快速、高精度、高準(zhǔn)確度的測(cè)量，尤其適用于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)及質(zhì)量監(jiān)控，可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構(gòu)模系，以及塊狀材料（基底）。

技術(shù)指標(biāo)：