45MG 超聲波測厚儀是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。
45MG 超聲波測厚儀
在使用基本配置時，是一款易懂易學(xué)、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過基本的培訓(xùn)，就可完成常用的測厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進(jìn)行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
帶有可選橡膠保護(hù)套和支架的45MG儀器
可選功能
只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大限度地增強(qiáng)測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
抵御惡劣環(huán)境的能力
堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
防振動測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
寬泛的操作溫度范圍
可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套
室內(nèi)顯示設(shè)置，可選A掃描模式
簡便操作的設(shè)計理念
可只用右手或左手操作的簡潔的鍵區(qū)
可直接訪問大多數(shù)功能的簡便易行的操作界面
使用內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡的存儲方式
USB通訊端口
可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選）
密碼保護(hù)方式的儀器鎖定
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有清晰度
室外顯示設(shè)置，可選A掃描模式
45MG的技術(shù)規(guī)格
| 測量 |
| 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到一個回波之間的時間間隔。 |
| 自動回波到回波（可選） | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
| 穿透涂層測量 （可選） | 利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） |
| 單晶探頭測量模式（可選） | 模式1：激勵脈沖與一個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲塊回波與一個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）
模式3：在激勵脈沖之后，位于一個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 |
| 厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量范圍需要使用單晶選項） |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米（0.001英寸）
單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸） |
| 探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 一般規(guī)格 |
| 操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
| 機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng) |
| 電池工作時間 | 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時
3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時
3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時 |
| 標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn) |
| 顯示 |
| 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負(fù)半波（波形選項） |
| 輸入/輸出 |
| USB | 2.0從接口 |
| 存儲卡 | 大容量：2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
| 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） |
| 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個厚度測量讀數(shù)，或20000個帶厚度值的波形 |
| 文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 |
| 文件結(jié)構(gòu) | 6個標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) |
| 報告 | 機(jī)載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和小值/大值 |
標(biāo)準(zhǔn)配置
軟件選項
45MG-SE (U8147022)：單晶選項，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-HP (U8147023)：單晶高穿透選項，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF (U8147019)：波形選項
45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序
選購附件
回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波，顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度：
穿透涂層技術(shù)
| 使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 | |
顯示A掃描的自動回波到回波模式
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項未被激活）
調(diào)整一個回波空白的手動回波到回波模式
顯示可選波形的穿透涂層模式
單晶軟件選項
用戶使用單晶軟件選項，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測量?？膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透軟件選項
用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個選項包含單晶選項。
可選數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。
數(shù)據(jù)記錄器選項
內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
32位字符的文件名稱
20位字符的ID#（TML#）編碼
6個文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機(jī)上手動創(chuàng)建的文件格式
內(nèi)置MicroSD存儲卡和可插拔MicroSD存儲卡
可以在內(nèi)置和可插拔MicroSD存儲卡之間拷貝文件
標(biāo)準(zhǔn)型USB通訊
單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
機(jī)載統(tǒng)計報告
機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式或.txt格式，直接導(dǎo)出到MicroSD存儲卡
在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。
可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。
機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView 接口程序
包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中
基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)
創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)
編輯所存數(shù)據(jù)
顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀
將測量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序
收集捕獲的屏幕
打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告
升級45MG軟件
下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件
在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。
