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iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料
iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。 該儀器的力荷載和位移測量動態(tài)范圍很大，因而可以實現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復測試。 模塊化選項適用于各種應用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。 iNano提供了一整套測試擴展選項，包括樣品加熱、連續(xù)剛度測量、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠程視頻選項。
產(chǎn)品詳細 主要應用 提供選項 工業(yè)應用 相關產(chǎn)品
產(chǎn)品描述
iNano采用InForce 50驅(qū)動器進行納米壓痕和通用納米機械測試。 InForce 50的50mN力荷載和50μm位移范圍使得該系統(tǒng)適合各種測試。 InView軟件是一個靈活的現(xiàn)代軟件包，可以輕松進行納米級測試。 iNano是內(nèi)置高速InQuest控制器和隔振門架的緊湊平臺。 該系統(tǒng)可以測試金屬、陶瓷、復合材料、薄膜、涂層、聚合物、生物材料和凝膠等各種不同的材料和器件。
InForce 50驅(qū)動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭
的軟件集成探頭校準系統(tǒng)，可實現(xiàn)快速準確的探頭校準
InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)
XY移動系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架
帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡，可實現(xiàn)精確的壓痕定位
ISO 14577和標準化測試方法
InView軟件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus報告、InView大學在線培訓和InView移動應用程序
硬度和模量測量(Oliver Pharr)
高速材料性質(zhì)分布
ISO 14577硬度測試
聚合物tan delta，儲存和損耗模量
樣品加熱
大學、研究實驗室和研究所
半導體和封裝行業(yè)
聚合物和塑料
MEMS（微機電系統(tǒng)）/納米級通用測試
陶瓷和玻璃
金屬和合金
制藥
涂料和油漆
聚合物制造
復合材料
電池和儲能
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