德國Becker&Hickl公司，專注于熒光壽命測量及熒光壽命顯微（FLIM）領域的研究及產(chǎn)品系統(tǒng)研發(fā)，利用其的多維TCSPC技術，不斷的FLIM技術的前進?；赽h公司常年的FLIM研究，可以提供基于各種顯微鏡的FLIM系統(tǒng)升級，方案靈活，性能可靠。
德國Becker&Hickl公司，專注于熒光壽命測量及熒光壽命顯微（FLIM）領域的研究及產(chǎn)品系統(tǒng)研發(fā)，利用其的多維TCSPC技術，不斷的FLIM技術的前進。基于bh公司常年的FLIM研究，可以提供基于各種顯微鏡的FLIM系統(tǒng)升級，方案靈活，性能可靠。
bh可提供完整的DCS-120共聚焦/雙光子FLIM系統(tǒng)和基于納米位移臺的PZ-FLIM-110系統(tǒng)，也可以在各類顯微鏡上升級。除了單個通道的升級，也可進行多通道的升級。此外，還可提供FASTAC快速FLIM升級。
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DCS-120 FLIM系統(tǒng)
| PZ-FLIM-110 系統(tǒng)
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由于激光和探測器可以靈活的與掃描單元耦合，DCS-120和PZ-FLIM-110可以在幾乎所有熒光顯微鏡上進行FLIM升級。而且，掃描速度可以自由控制，所以對于PLIM長壽命實驗也可輕松完成。此外，主二向色鏡可以靈活更換，可以充分發(fā)揮超連續(xù)譜激光器及各波段激光器的優(yōu)勢。
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Zeiss
| Leica
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Olympus
| Nikon
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激光共聚焦/雙光子顯微鏡FLIM升級datasheet
FASTAC 快速成像FLIM系統(tǒng)datasheet
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 | 基于bh公司的DCS-120共聚焦掃描頭，結合大數(shù)值孔徑物鏡，可以對宏觀樣品采集FLIM數(shù)據(jù)。
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 | 激光共聚焦及雙光子顯微鏡等點掃描成像系統(tǒng)造價昂貴，對于成像空間分辨率要求不高的應用，可以在普通熒光顯微鏡上升級寬場FLIM系統(tǒng)。
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成立于1993年，專注于熒光壽命測量及熒光壽命顯微（FLIM）領域的研究及產(chǎn)品系統(tǒng)研發(fā)，利用其的多維TCSPC技術，不斷的FLIM技術的前進。BH在范圍內已提供超過1600套TCSPC系統(tǒng)，并定期在范圍內組織5個專題技術研討會，推動FLIM技術在生命科學、生物醫(yī)學等領域的應用。
Dr. Wolfgang Becker著有《Advanced Time-Correlated Single Photon Counting Techniques》及《Advanced Time Correlated Single Photon Counting Applications》兩本專著，細致介紹了多維TCSPC技術及其相關應用，為相關研究者提供了強大的支持。
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熒光壽命是指分子在單線激發(fā)態(tài)所平均停留的時間。它不僅與物質自身的結構有關，而且與其所處微環(huán)境的極性、粘度等條件有關，因此通過熒光壽命測定可以直接了解物質及所在體系發(fā)生的變化。熒光現(xiàn)象多發(fā)生在納秒級，正好是分子運動的時間尺度，因此測量熒光壽命可以“看”到許多復雜的分子間作用過程，例如超分子體系中分子間的簇集，固液界面上吸附態(tài)高分子的構象重排、蛋白質高級結構的變化等。
FLIM-熒光壽命成像顯微，是將熒光壽命測量與激光掃描共聚焦顯微鏡等樣品掃描技術相結合的成像技術，通過掃描可以得到樣品各空間點熒光強度隨時間變化情況。由于熒光壽命是所研究系統(tǒng)的固有特性，與細胞內各處熒光探針的局部濃度無關，且不受光漂白和散射的影響，與熒光成像相比有更多優(yōu)勢。
| 脈沖激光器 |
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| 空間掃描單元 |
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| 顯微鏡 |
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| 單光子探測器 |
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| TCSPC計數(shù)器 |
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| FLIM軟件 |
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