探知未來原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱

探知未來

原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。

HT掃描器 高速反饋 高速掃描

新開發(fā)的可快速響應(yīng)的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化，成功實(shí)現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設(shè)備快5倍以上。

探針專家 便捷操作 輕松換探針

匠心的探針更換夾具，讓小心翼翼的探針更換操作變得簡捷輕松

頭部滑動結(jié)構(gòu) 高穩(wěn)定性 高速分析處理

樣品交換時(shí)也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性優(yōu)異，分析時(shí)間也大幅度縮短

鼠標(biāo)操作即可表現(xiàn)豐富的3D圖像顯示

可從不同角度放大拉伸圖像進(jìn)行確認(rèn)。鼠標(biāo)操作簡單，更可進(jìn)行3D斷面形狀分析。

從觀察到分析實(shí)現(xiàn)無拘無束的可操作性

按照操作指南指導(dǎo)操作順序，使用導(dǎo)航功能直接鎖定觀察位置，實(shí)現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察

滿足所有要求的功能和擴(kuò)展性

具備豐富的測定模式和優(yōu)異的擴(kuò)展性，可對不同硬度、不同導(dǎo)電性能等各式樣品進(jìn)行觀察分析。