散射光光彈性應(yīng)力計(jì)
型號：SLP-2000
yle="width: 377px; height: 319px;" />
本機(jī)器可以用散亂光光彈性的原理測定以往無法測定的鋰鈉離子交換的化學(xué)鋼化玻璃。若表面附件有鉀離子層的話，可以與FSM-6000L表面應(yīng)力計(jì)的數(shù)據(jù)相結(jié)合成以分析斷面的應(yīng)力分布。
<標(biāo)準(zhǔn)偏差>
yle="width:329px;">
| yle="width:76px;"> 型號 | yle="width:82px;"> 波長 | yle="width:85px;"> CT-CV | yle="width:85px;"> DOL-Zero |
| yle="width:76px;"> SLP-1000 | yle="width:82px;"> 640nm | yle="width:85px;"> 5.65Mpa | yle="width:85px;"> 2.16um |
| yle="width:76px;"> SLP-2000 | yle="width:82px;"> 518nm | yle="width:85px;"> 1.51Mpa | yle="width:85px;"> 1.42um |
| yle="width:76px;"> SLP-2000 | yle="width:82px;"> 405nm | yle="width:85px;"> 1.00Mpa | yle="width:85px;"> 1.27um |
.校正片測試20次的數(shù)據(jù)。
.測量時(shí)需要相對應(yīng)波長的折射率和光彈性系數(shù)。
規(guī)格 測量范圍 ：應(yīng)力強(qiáng)度 0-2000Mpa，應(yīng)力層深度10-600um
測量分辨率 ：應(yīng)力強(qiáng)度5MPa 應(yīng)力層深度5um
測量精度 ：從表面起深度50um以上，應(yīng)力強(qiáng)度±10Mpa 深度±10um(校正片為基準(zhǔn))
光源 ：LD 518nm 20mw Class 3B or 405nm 30m W Class 3B
應(yīng)用 ：化學(xué)鋼化玻璃，2段強(qiáng)化玻璃，物理強(qiáng)化玻璃
樣品的形狀 ：平面-1000R 10X10mm以上
棱鏡折射率 ：1.518@518nm /1.530@405nm
電腦 ：inter core i5及以上
系統(tǒng) ：Windows10專業(yè)版 64位
尺寸（主體）：W320XD280xH220mm(應(yīng)力計(jì)主機(jī))
重量（主體）：10Kg(應(yīng)力計(jì)主機(jī))
*FSM數(shù)據(jù)合成時(shí)需要另外用到Fsm用加密鎖
*405nm的LD長時(shí)間連續(xù)使用的話，裝置內(nèi)部的光學(xué)部件會受損。因此，與其他波長的LD相比，零件更換周期更快
