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ADICO環(huán)境試驗箱廣泛使用于航空航天、單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品用途：
ADICO環(huán)境試驗箱廣泛使用于航空航天、單位、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍
大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
滿足標準：
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗方法Ab
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法Bb
GJB150.3-1986 高溫試驗
GJB150.3A-2009 高溫試驗
GJB150.4-1986 低溫試驗
GJB150.4A-2009 低溫試驗
GJB150.9A-2009 濕熱試驗
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2012) 恒定濕熱試驗方法Cab
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db
GB/T2423.34-2012(IE60068-2-38-2009) 溫濕組合試驗
ISO 16750-4/GMW 3172-2012: HT/HHC/HHCO
VW80000/BMW GS95003-4
GJB150.9A-2009 濕熱試驗
JJF1101-2019 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
和新能源電池包等測試標準
內(nèi) 尺 寸 | 3000×3000×2000 mm (W*D*H)以客戶需求為準 |  |
外 尺 寸 | 4050×3330×2070 mm (W*D*H) | |
溫度范圍 | －70℃～+150 ℃ | |
濕度范圍 | 10 %～98% RH | |
降溫速率 | 20 ℃～－70 ℃/ ≦90 min(空載下) | |
升溫速率 | 20 ℃～+150 ℃/ ≦45 min | |
溫度波動度 | ≦±0.5℃ | |
溫度分布均勻度 | ≦2.0℃(空載下) | |
濕度波動度 | ≦±3.0% | |
濕度分布均勻度 | ≦ 3.0% (空載下) | |
溫度偏差 | ≦±1.0℃ | |
濕度偏差 | ≦±3.0% (空載下) | |
設(shè)備具有可靠、穩(wěn)定、節(jié)能的優(yōu)勢。
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