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參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 弼微科技(上海)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) $CompanyTypeName
- 更新時(shí)間 2024/9/18 15:05:30
- 訪問次數(shù) 31
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微型拉伸壓縮試驗(yàn)臺(tái),可以快速、準(zhǔn)確、可靠的獲得材料力學(xué)性能信息。設(shè)計(jì)專門應(yīng)用于掃描電子顯微鏡(SEMs),掃描探針顯微鏡(SPMs)和光學(xué)顯微鏡(LMs),微型試驗(yàn)臺(tái)是在放大的條件下進(jìn)行測(cè)試的非常理想的工具。它是一種能更深入的了解材料破壞的早期階段和更好的整體了解材料的性能的工具。此外,可以實(shí)時(shí)觀察晶粒的位錯(cuò)和裂紋的擴(kuò)展,揭示的關(guān)于材料變形的信息,比傳統(tǒng)的、后失效分析技術(shù)更多。 應(yīng)用
型號(hào) | SEMtester 100 | SEMtester 1000 | SEMtester 1000 EBSD | SEMtester 2000 | SEMtester 2000 EBSD |
負(fù)載 | 100 lb (450 N) | 1000 lb (4500 N) | 1000 lb (4500 N) | 2000 lb (9000 N) | 2000 lb (9000 N) |
尺寸 | 169 x 114 x 38mm | 173 x 120 x 49mm | 140 x 132 x 49mm | 204 x 130 x 72mm | 207 x 130 x 72mm |
重量 | 1 kg | 1.5 kg | 1.5 kg | 2.2 kg | 2.2 kg |
樣品尺寸1 (厚x長(zhǎng)x寬) | 1x 71.5x 10mm | 2.5 x 73 x 10mm | 2.5 x 73 x 10mm | 3.0 x 88 x 10mm | 2.5 x 64 x 10mm |
最小樣品尺寸2 (厚x長(zhǎng)x寬) | 44.5 x 10mm | 44.5 x 10mm | 43 x 10mm | 54 x 10mm | 54 x 10mm 3 |
應(yīng)變行程 | 27mm | 28.5mm | 10mm | 34mm | 10mm |
壓力傳感器精度 | ±0.2% x 滿量程范圍 | ||||
線性刻度精度 | ±20 nm | ||||
電源要求 | 100-240 Vac, 50-60 Hz | ||||
樣品加熱器 | 高溫(聯(lián)系工廠定制) | ||||
使用環(huán)境 | 10°C ~ 43°C 非凝露 | ||||
儲(chǔ)存環(huán)境 | -18°C ~ 65°C 非凝露 | ||||
數(shù)據(jù)采集速率 | 可調(diào)至1 kHz | ||||
電腦要求 | Windows XP, Vista or 7, 2 Gb DRAM 或更高版本 | ||||
報(bào)告輸出格式 | .csv, .pdf, .jpg, .bmp |
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