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- 公司名稱 鍵德測試測量系統(tǒng)(東莞)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 東莞市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/9/27 14:12:31
- 訪問次數(shù) 46
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應(yīng)用導(dǎo)向 - 豐富的KitStart測試組件適用于多種的測試要求。
超高精度和穩(wěn)定性 - 花崗巖探針臺底座,滿足亞微級測試要求。
SlimScope和Superscope - SlimScope用于高精度RF/mmW/load pull測試,Superscope用于亞微米級測試。
高性價比 - 用戶可根據(jù)需求配置的高性價比探針臺系統(tǒng)。
Superscope為擁有4個轉(zhuǎn)塔的金相顯微鏡,可安裝4個M Plan APO 95mm金相物鏡。其放大倍數(shù),根據(jù)所選物鏡的倍數(shù),通常由20~2000X不等。該系統(tǒng)常用于極小微尺寸的待測點(diǎn)的測試或激光應(yīng)用中。
HAPS探針臺為Superscope配置了兼顧剛性和精度的基座,可進(jìn)行X-Y-Z三方向的精密定位。簡單直接的操作方法,可讓用戶列加專注于測試測量應(yīng)用于中去,而不是探針臺的操作。
SlimScope擁有12X的超大變倍比Zoom lens,可根據(jù)客戶對放大倍數(shù)的需求配置1X或更大倍數(shù)的M Plan APO物鏡。專用的結(jié)構(gòu)設(shè)計,可讓用戶輕松的切換M Plan APO物鏡,地減少更換物鏡的麻煩并提升安全性。
SlimScope常用于對精度要求更高的RF/mmW測試,負(fù)載牽引測試等。
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