F54-XY-200 薄膜厚度測量儀

自動薄膜厚度測繪系統(tǒng)

借助F54-XY-200的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供快速的厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的不受限制的測量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。

圖案表面的顯微測量

F54-XY-200具有集成的顯微鏡和實(shí)時(shí)攝像頭，可以精確監(jiān)控膜厚測量點(diǎn)。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改善在較粗糙的材料上的測量性能。

FILMAPPER軟件-測量自動化測繪模式生成器

內(nèi)置的測繪圖案生成器使您可以輕松的生成測量樣品相關(guān)區(qū)域所需的坐標(biāo)圖案，從而節(jié)省了數(shù)據(jù)采集時(shí)間。以下是您可以調(diào)整的自定義測繪屬性的一些參數(shù):

• 樣品形狀:圓形或矩形

• 徑向，矩形或線性圖案

• 中心和邊緣去除

• 點(diǎn)密度

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