高性能X射線(xiàn)熒光分析儀
產(chǎn)品描述:
美國(guó)博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 臺(tái)式X射線(xiàn)熒光(XRF)鍍層測(cè)厚儀——為您提供高精度、快速簡(jiǎn)便的鍍層厚度測(cè)量、元素分析,以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型采用業(yè)界的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置,有效縮小測(cè)量點(diǎn)斑點(diǎn)的同時(shí),可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線(xiàn)激發(fā)強(qiáng)度。
Bowman BA-100 Optics 機(jī)型配備大面積的SDD(硅漂移探測(cè)器),有效拓展元素分析范圍,適應(yīng)的微區(qū)、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測(cè)試性能、突出的微區(qū)測(cè)量能力,Bowman BA-100 Optics機(jī)型是研究開(kāi)發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線(xiàn)管
多毛細(xì)管聚焦光學(xué)結(jié)構(gòu)
顯著提高X射線(xiàn)信號(hào)強(qiáng)度
獲得較準(zhǔn)直器機(jī)型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號(hào)強(qiáng)度
小于100um直徑的測(cè)量斑點(diǎn)
經(jīng)過(guò)驗(yàn)證,接近的測(cè)量精度
應(yīng)用領(lǐng)域:
PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
Sn/Cu
10,14,18Kt